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芯片的破壞物理性分析-DPA測(cè)試-服務(wù)MIL-STD測(cè)試要求

更新時(shí)間1:2025-09-27 信息編號(hào):e9dtsjad121ef 舉報(bào)維權(quán)
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供應(yīng)商 廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司 店鋪
認(rèn)證
報(bào)價(jià) 面議
關(guān)鍵詞 芯片的破壞物理性分析,安徽破壞物理性分析,可靠的破壞物理性分析,當(dāng)?shù)仄茐奈锢硇苑治?
所在地 廣東廣州番禺石碁鎮(zhèn)創(chuàng)運(yùn)路8號(hào)廣電計(jì)量科技產(chǎn)業(yè)園
曾先生
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5年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

電子元器件制造?藝質(zhì)量?致性是電子元器件滿足其用途和相關(guān)規(guī)范的前提。?量假冒翻新元器件充斥著元器件供應(yīng)市場(chǎng),如何確定貨架元器件真?zhèn)问抢_元器件使用方的?大難題。廣電計(jì)量DPA分析測(cè)試能解決這一系列問(wèn)題,其中檢測(cè)項(xiàng)目包括:
●非破壞性項(xiàng)目:外部目檢、X?射線檢查、PIND、密封、引出端強(qiáng)度、聲學(xué)顯微鏡檢查;
●破壞性項(xiàng)目:激光開(kāi)封、化學(xué)開(kāi)封、內(nèi)部?體成分分析、內(nèi)部目檢、SEM檢查、鍵合強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度、粘接強(qiáng)度、IC取芯片、 芯片去層、襯底檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、ESD測(cè)試

根據(jù)DPA結(jié)果剔除不合格批次,保留合格批次。破壞性物理分析(DPA)是高可靠工程使用的元器件質(zhì)量重要方法之一,主要用于元器件批質(zhì)量的評(píng)價(jià),也適用于元器件生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量監(jiān)控。 DPA可發(fā)現(xiàn)在常規(guī)篩選檢驗(yàn)中不一定能暴露的問(wèn)題,這些問(wèn)題主要是與產(chǎn)品設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、裝配等工藝相關(guān)的缺陷。由于破壞性物理分析技術(shù)有這樣的技術(shù)特點(diǎn),因此,對(duì)J用電子元器件開(kāi)展DPA,可以把問(wèn)題暴露于事前,有效防止型號(hào)工程由于電子元器件的潛在質(zhì)量問(wèn)題而導(dǎo)致整體失效。


廣電計(jì)量視公信力為企業(yè)生命,技術(shù)能力獲得了眾多國(guó)內(nèi)外機(jī)構(gòu)和組織的認(rèn)可和授權(quán),通過(guò)了中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可(CNAS)、中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA)、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測(cè)機(jī)構(gòu)(CATL)認(rèn)可,是國(guó)家食品復(fù)檢機(jī)構(gòu)、全國(guó)土壤污染詳查推薦檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、中國(guó)CB實(shí)驗(yàn)室。目前已獲得CNAS認(rèn)可45053項(xiàng)參數(shù),CMA認(rèn)可65113項(xiàng)參數(shù),CATL認(rèn)可覆蓋7922項(xiàng)參數(shù);在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)發(fā)展過(guò)程中,廣電計(jì)量還獲得、行業(yè)及社會(huì)組織頒發(fā)的資質(zhì)榮譽(yù)200余項(xiàng)。基于遍布全國(guó)的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和公信力,廣電計(jì)量幫助客戶穩(wěn)健開(kāi)拓本地市場(chǎng)乃至全球市場(chǎng)。

所屬分類:檢測(cè)服務(wù)/性能檢測(cè)

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