電子產(chǎn)品銷毀之磁盤數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤使用的是磁性介質(zhì)的存儲(chǔ)原理和數(shù)據(jù)的讀寫方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級(jí)格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，在磁盤崩潰或修復(fù)之前，捐贈(zèng)的磁盤數(shù)據(jù)應(yīng)該按照不同的種類分類銷毀。

報(bào)廢的電子產(chǎn)品怎么銷毀更環(huán)保：
企業(yè)對(duì)廢舊電子產(chǎn)品拆解再利用的行為，國(guó)家也制定了相應(yīng)的法律法規(guī)來限制和制約，主要包括：對(duì)廢舊電子產(chǎn)品回收后，須交給有的企業(yè)進(jìn)行拆解，允許再加工修復(fù)作為二手產(chǎn)品銷售，但符合再利用的標(biāo)準(zhǔn)，并且要有標(biāo)識(shí)說明是再利用產(chǎn)品，以達(dá)到誰(shuí)銷售誰(shuí)負(fù)責(zé)的目的。

對(duì)于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗(yàn)往往指的就是壽命試驗(yàn)。壽命試驗(yàn)可分為非工作狀態(tài)的存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)和工作狀態(tài)的工作壽命試驗(yàn)兩類。為了縮短試驗(yàn)周期、減少樣品數(shù)量和試驗(yàn)費(fèi)用，常常采用加速壽命試驗(yàn)。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)中，常用的應(yīng)力為溫度和電壓。

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