X熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng)：
1、 為了保持儀器的良好外觀，需經(jīng)常對(duì)儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵；
2、 向樣品腔內(nèi)放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；
3、 樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作；
4、為使儀器能長期工作正常，需定期對(duì)各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，并進(jìn)行調(diào)整；
5、 儀器只允許經(jīng)培訓(xùn)的人員才能操作，其他人員一律不能操作；
6、 使用、保存和搬動(dòng)中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。

x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

臺(tái)式x熒光光譜儀是研究藥物與蛋白質(zhì)相互作用的常用儀器。藥物與蛋白質(zhì)相互作用后可能引起藥物自身熒光光譜和蛋白質(zhì)自身熒光(內(nèi)源熒光)光譜以及同步熒光光譜的變化，如熒光強(qiáng)度和偏振度的改變出現(xiàn)等，這些均可以提供藥物與蛋白質(zhì)結(jié)合的信息。 臺(tái)式x熒光光譜儀對(duì)于一種未知發(fā)光性能的熒光粉來說，測(cè)試發(fā)射譜時(shí)，通常利用氙燈的強(qiáng)254nm發(fā)射來激發(fā)樣品。這時(shí)激發(fā)單色器從氙燈發(fā)射出來的復(fù)合光中分出254nm的紫外光。該紫外光照射到熒光粉上，有可能激發(fā)熒光粉使其發(fā)射某種顏色的光。熒光粉發(fā)射的混合波長的光被發(fā)射單色器以單色光的形式一一鑒別釋放，同時(shí)利用PMT記錄相應(yīng)的強(qiáng)度。
臺(tái)式x熒光光譜儀技術(shù)已成功應(yīng)用于環(huán)境、食物鏈、動(dòng)植物、農(nóng)產(chǎn)品、人體組織細(xì)胞及、生物醫(yī)學(xué)材料、組織細(xì)胞、醫(yī)學(xué)試劑、動(dòng)植物、代謝產(chǎn)物中的無機(jī)元素測(cè)定。目前XRF分析們已普遍走出了單純進(jìn)行分析側(cè)試研究的范疇，廣泛開展了分析數(shù)據(jù)與所包含信息的相關(guān)性研究，試圖揭示出分析結(jié)果與疾病及環(huán)境變化等的內(nèi)在聯(lián)系，為疾病診斷與預(yù)防、環(huán)境預(yù)測(cè)與治理等提供科學(xué)依據(jù)。
臺(tái)式x熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺(tái)式x熒光光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征，通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
特征臺(tái)式x熒光光譜儀的產(chǎn)生與特性當(dāng)用高能電子束照射樣品時(shí)，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負(fù)的加速度會(huì)產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜，簡稱為連續(xù)潛或韌致。另一方面，化學(xué)元素受到高能光子或粒子的照射，如內(nèi)層電子被激發(fā)，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線，則受激產(chǎn)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產(chǎn)生的過程。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數(shù)。
而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。
因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

原理和技術(shù)：手持式礦石元素分析儀主要基于光譜技術(shù)，其中常用的是光電子發(fā)射光譜（LIBS）和X射線熒光光譜（XRF）。LIBS技術(shù)通過激光脈沖激發(fā)樣品，使其產(chǎn)生等離子體，通過分析等離子體發(fā)射的光譜來確定元素成分。XRF技術(shù)則利用樣品受到X射線激發(fā)后產(chǎn)生的熒光來分析元素成分。這些技術(shù)具有非破壞性、快速、準(zhǔn)確的特點(diǎn)。

數(shù)據(jù)處理和顯示：手持式礦石元素分析儀通常配備了數(shù)據(jù)處理和顯示功能，可以實(shí)時(shí)顯示分析結(jié)果。它可以提供元素含量的數(shù)字結(jié)果，也可以以圖表或譜圖的形式展示，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和解讀。

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