紙護(hù)角又稱(chēng)邊緣板，是國(guó)際行的包裝產(chǎn)品之一，用來(lái)代替木料包裝及其他重的包裝方式。具有價(jià)格低、份量輕、堅(jiān)固、符合環(huán)保要求等特點(diǎn)。又名紙包角或護(hù) 角紙板、邊緣板、角紙、紙角鋼，由紗管紙和牛卡紙經(jīng)成套護(hù)角機(jī)定型壓制而 成，兩端面光滑平整、無(wú)明顯的毛刺，且相互垂直，可以代替木材回收再利用，是理想的新型綠色包裝材料。 紙護(hù)角主要的采購(gòu)商是建筑業(yè)、制鋁業(yè)、鋼鐵業(yè)以及其他金屬業(yè)，另外還包括制磚業(yè)、糖果業(yè)、冰凍食品、日用品、家電、化工品、藥品、計(jì)算機(jī)和其他高科技產(chǎn) 品等等，這是由于這些產(chǎn)品有大量表面和邊角需要保護(hù)。另外紙護(hù)角還可以應(yīng)用在水果的運(yùn)輸中，不僅起到保護(hù)作用，還可以使貨物在運(yùn)輸中通風(fēng)。

紙護(hù)角組委環(huán)保的包裝用品，由于其低成本，易回收等特點(diǎn)，實(shí)用性好等特點(diǎn)受到人們的青睞，近年 來(lái)，紙護(hù)角更因符合綠色、環(huán)保概念，促使紙制品包裝居包裝材料使用。然而，在紙包裝不斷發(fā)展的過(guò)程中，人們也發(fā)現(xiàn)了紙包裝的缺點(diǎn)，如紙箱包裝承重性差、易變形等等。面對(duì)發(fā)展中遇到的這些問(wèn)題，紙護(hù)角在紙包裝中逐漸嶄露頭角，尤其是在蜂窩紙箱包裝、瓦楞紙箱包裝中。在整個(gè)發(fā)展的過(guò)程中，紙護(hù)角也開(kāi)始改 變它之前的形狀，出現(xiàn)了環(huán)繞型紙護(hù)角、折彎紙護(hù)角、U型紙護(hù)角等。

機(jī)用U型紙護(hù)角：紙護(hù)角又稱(chēng)邊緣板，是國(guó)際行的包裝產(chǎn)品之一，用來(lái)代替木料包裝及其他笨重的包裝方式。具有價(jià)格低、份量輕、堅(jiān)固、符合環(huán)保要求等特點(diǎn)。環(huán)繞型紙護(hù)角是紙護(hù)角的一種分類(lèi)，是指制造成環(huán)形結(jié)構(gòu)，可疑包裹在特定產(chǎn)品外面，提供保護(hù)的紙護(hù)角。紙護(hù)角是多張牛皮紙復(fù)合后，經(jīng)護(hù)角機(jī)定型壓制而成，主要有L形和U形。用于貨品堆碼后，可加強(qiáng)包裝物邊緣支撐力并保護(hù)其整體包裝強(qiáng)度，屬于綠色環(huán)保包裝材料，可以代替木材回收再利用，在目前的集裝包裝中得到了較大應(yīng)用。

XRF分析儀是檢測(cè)ROHS鹵素鍍層厚度含量的儀器，采用新型的半導(dǎo)體SDD探測(cè)器，的提高計(jì)數(shù)率，縮減了測(cè)試時(shí)間。作為國(guó)內(nèi)的XRF分析儀器制造廠商，天瑞儀器秉承精益求精的研發(fā)理念，利用現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展起來(lái)的新一代XRF測(cè)試儀EDX0B，能夠的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測(cè)定。分析檢出限可達(dá)1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99％；任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型；相互的基體效應(yīng)校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃；電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源；能量分辨率：160±5eV；外觀尺寸： 550×416×333mm；樣品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。儀器標(biāo)準(zhǔn)配置包括：樣品平臺(tái)；電制冷Si-PIN探測(cè)器；檢測(cè)電子電路；高低壓電源；大功率X光管；計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。

RoHS檢測(cè)分析（五金工具、塑料顆粒、涂料、塑膠模具、皮革布料、電線電纜、保溫杯等）
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層（鍍錫、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍銀、鍍銠、鍍鈀等）的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

技術(shù)特點(diǎn)：
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

ROHS光譜環(huán)保測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)


ROHS環(huán)保測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)
測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg

ROHS光譜測(cè)試儀儀器配置

樣品平臺(tái)
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

環(huán)保測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測(cè)試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測(cè)試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測(cè)器，提供激發(fā)效率和測(cè)試精度。

環(huán)保測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測(cè)試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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