常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括:
1. X射線熒光光譜儀:通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜,確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀:利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件,對礦石樣品進(jìn)行離子化和分析,以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。
有色金屬礦石品位快速分析儀A-4000可以快速檢測各種有色金屬礦石中金屬元素種類及含量,該分析儀體積小、重量輕、分析速度快,適合在現(xiàn)場對礦石品位進(jìn)行檢測,可以檢測的礦石包含各種有色金屬礦石。
分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),無輻射性同位素,現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準(zhǔn)確,能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。
分析儀采用了X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦),從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色,并具有的升級潛力。
·使用了的和多用途的x射線資料模式:采用康普頓常態(tài)化校正方法:可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來進(jìn)行定量分析,而不需要進(jìn)行的校正?;緟?shù):采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實驗校正法:利用“校正曲線”進(jìn)行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份,很容易進(jìn)行校正。因此,Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進(jìn)行對比分析,顯示出分析結(jié)果,分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式,可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗。
·資料安全性:資料以二進(jìn)位格式存儲于設(shè)備中,以資料的完整性。
以化驗鐵礦石(鐵粉)中鐵(品位)來對比
傳統(tǒng)方法 我公司設(shè)備
滴定法 (根據(jù)顏色分辨) 光電法(固定量加入)
穩(wěn)定性差 (人為誤差率高) 穩(wěn)定性好(人為誤差率減少)
有經(jīng)驗人員操作 非人員經(jīng)過培訓(xùn)都可以操作
配制試劑量多(且含有毒試劑) 配制試劑只有1個
結(jié)果要人工計算 結(jié)果直接顯示和打印出來
其他未竟事項請和我公司銷售部聯(lián)系
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