供應(yīng)商 | 上海增雨實(shí)業(yè)有限公司 店鋪 |
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認(rèn)證 | |
報(bào)價(jià) | 人民幣 666.00元 |
關(guān)鍵詞 | 黃浦庫存電子產(chǎn)品回收,庫存電子產(chǎn)品回收市場(chǎng),庫存電子產(chǎn)品回收標(biāo)準(zhǔn),區(qū)庫存電子產(chǎn)品回收 |
所在地 | 上海市閔行區(qū) |
8年
電子產(chǎn)品銷毀的方法:
1、物質(zhì)利用又稱物質(zhì)回收利用,指通過物理轉(zhuǎn)換、化學(xué)抓換(包括化學(xué)改性及熱解、氣化等熱轉(zhuǎn)換)和生物轉(zhuǎn)換、實(shí)現(xiàn)垃圾的物質(zhì)屬性的重復(fù)利用、再造利用和再生利用;包括傳統(tǒng)的物質(zhì)資源回收利用和易腐有機(jī)垃圾轉(zhuǎn)換成物質(zhì)資源;
2、能量利用又稱能量回收利用,指將垃圾的內(nèi)能轉(zhuǎn)換成熱能、電能;包括焚燒發(fā)電,供熱和熱電聯(lián)產(chǎn);
3、填埋處理指對(duì)不能進(jìn)行資源化處理(包括物質(zhì)利用和能量利用)的無用垃圾進(jìn)行填埋處理;
電子產(chǎn)品一般要做哪些測(cè)試
1、低溫試驗(yàn)
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》;
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍:-70℃~10℃。
2、高溫試驗(yàn)
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》;
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍:10℃~210℃。
3、濕熱試驗(yàn)
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》;
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》
進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。
濕度范圍:30%RH~RH。
4、霉菌試驗(yàn)
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法長霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
5、鹽霧試驗(yàn)
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
6、低氣壓試驗(yàn)
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》;
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》;
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》;
進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。范圍:70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振動(dòng)試驗(yàn)
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。
頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái)):5~60Hz(定頻振動(dòng)5~80Hz),大位移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái)):5~3000Hz,大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗(yàn)
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。
9、碰撞試驗(yàn)
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。
10、跌落試驗(yàn)
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》;
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。
電子行業(yè)產(chǎn)品可靠性測(cè)試
通過可靠性試驗(yàn),可以確定電子產(chǎn)品在環(huán)境條件下工作或存儲(chǔ)時(shí)的可靠性特征量,為使用、生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù);也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施,可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決,提高產(chǎn)品可靠性。
所屬分類:物資回收/銷毀
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