格式化往往是電子產(chǎn)品銷毀公司常用的一種做法了，但是大家要注意的就是，在實(shí)際進(jìn)行銷毀的過(guò)程當(dāng)中，要每一個(gè)地方的數(shù)據(jù)全部都有著重新的低格式化的現(xiàn)象，而且它們可以有效的發(fā)揮效果，同樣所有的操作系統(tǒng)都有著的格式化，數(shù)據(jù)依然是可以救過(guò)來(lái)的，基本上都是要進(jìn)行物理消除的。

電子產(chǎn)品銷毀之磁盤數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤使用的是磁性介質(zhì)的存儲(chǔ)原理和數(shù)據(jù)的讀寫方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級(jí)格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，在磁盤崩潰或修復(fù)之前，捐贈(zèng)的磁盤數(shù)據(jù)應(yīng)該按照不同的種類分類銷毀。

電子產(chǎn)品銷毀范圍：
對(duì)于硬盤芯片銷毀、集成電路銷毀、主板銷毀、線路板銷毀、控制器銷毀、硬盤銷毀、數(shù)據(jù)設(shè)備銷毀的銷毀(包括消磁)還沒(méi)有具體明確的管理規(guī)定，目前，國(guó)家有關(guān)主管部門正在考慮制定相應(yīng)的規(guī)范，確保涉密硬盤等存儲(chǔ)介質(zhì)在維修銷毀過(guò)程中的安全。

電子產(chǎn)品一般要做哪些測(cè)試
1、低溫試驗(yàn)
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗(yàn)
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍：10℃～210℃。
3、濕熱試驗(yàn)
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》；
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》
進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。
濕度范圍：30%RH～RH。
4、霉菌試驗(yàn)
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
5、鹽霧試驗(yàn)
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
6、低氣壓試驗(yàn)
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》；
進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動(dòng)試驗(yàn)
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗(yàn)
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗(yàn)
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。
10、跌落試驗(yàn)
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。

電子行業(yè)產(chǎn)品可靠性測(cè)試
通過(guò)可靠性試驗(yàn)，可以確定電子產(chǎn)品在環(huán)境條件下工作或存儲(chǔ)時(shí)的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原材料和工藝流程等方面存在的問(wèn)題。通過(guò)失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問(wèn)題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。

電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告
質(zhì)量檢測(cè)是指質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)接受產(chǎn)品生產(chǎn)商或產(chǎn)品用戶的委托，綜合運(yùn)用科學(xué)方法及技術(shù)對(duì)某種產(chǎn)品的質(zhì)量、安全、性能、環(huán)保等方面進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，出具質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告，從而評(píng)定該種產(chǎn)品是否達(dá)到、行業(yè)和用戶要求的質(zhì)量、安全、性能及法規(guī)等方面的標(biāo)準(zhǔn)。

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