電子產(chǎn)品銷毀之磁盤數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤使用的是磁性介質(zhì)的存儲原理和數(shù)據(jù)的讀寫方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風險，在磁盤崩潰或修復之前，捐贈的磁盤數(shù)據(jù)應該按照不同的種類分類銷毀。
電子產(chǎn)品銷毀的方法：
1、物質(zhì)利用又稱物質(zhì)回收利用，指通過物理轉(zhuǎn)換、化學抓換（包括化學改性及熱解、氣化等熱轉(zhuǎn)換）和生物轉(zhuǎn)換、實現(xiàn)垃圾的物質(zhì)屬性的重復利用、再造利用和再生利用；包括傳統(tǒng)的物質(zhì)資源回收利用和易腐有機垃圾轉(zhuǎn)換成物質(zhì)資源；
2、能量利用又稱能量回收利用，指將垃圾的內(nèi)能轉(zhuǎn)換成熱能、電能；包括焚燒發(fā)電，供熱和熱電聯(lián)產(chǎn)；
3、填埋處理指對不能進行資源化處理（包括物質(zhì)利用和能量利用）的無用垃圾進行填埋處理；
電子產(chǎn)品一般要做哪些測試
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃。
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～RH。
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
電子行業(yè)產(chǎn)品可靠性測試
通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。
對于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗往往指的就是壽命試驗。壽命試驗可分為非工作狀態(tài)的存儲壽命試驗和工作狀態(tài)的工作壽命試驗兩類。為了縮短試驗周期、減少樣品數(shù)量和試驗費用，常常采用加速壽命試驗。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗中，常用的應力為溫度和電壓。
電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測報告
質(zhì)量檢測是指質(zhì)量檢測機構(gòu)接受產(chǎn)品生產(chǎn)商或產(chǎn)品用戶的委托，綜合運用科學方法及技術(shù)對某種產(chǎn)品的質(zhì)量、安全、性能、環(huán)保等方面進行質(zhì)量檢測，出具質(zhì)量檢測報告，從而評定該種產(chǎn)品是否達到、行業(yè)和用戶要求的質(zhì)量、安全、性能及法規(guī)等方面的標準。
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