礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。
全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。
礦石光譜分析儀能夠快速、準(zhǔn)確地分析礦石中的各種元素和化合物，幫助礦石開采和加工企業(yè)更好地了解礦石的成分和特性。它們可以在礦山現(xiàn)場或?qū)嶒炇抑惺褂?，提供實時的結(jié)果，幫助企業(yè)做出決策。
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