電子產(chǎn)品銷毀之磁盤數(shù)據(jù)銷毀的原因：
由于磁盤使用的是磁性介質(zhì)的存儲原理和數(shù)據(jù)的讀寫方法，普通的數(shù)據(jù)銷毀方法，如低級格式化和數(shù)據(jù)刪除，不能完全清除之前存儲的數(shù)據(jù)。操作系統(tǒng)和磁盤的隱性操作將產(chǎn)生剩余數(shù)據(jù)。為了避免使用殘差回收原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄漏的風(fēng)險，在磁盤崩潰或修復(fù)之前，捐贈的磁盤數(shù)據(jù)應(yīng)該按照不同的種類分類銷毀。

電子產(chǎn)品銷毀的方法：
1、物質(zhì)利用又稱物質(zhì)回收利用，指通過物理轉(zhuǎn)換、化學(xué)抓換（包括化學(xué)改性及熱解、氣化等熱轉(zhuǎn)換）和生物轉(zhuǎn)換、實現(xiàn)垃圾的物質(zhì)屬性的重復(fù)利用、再造利用和再生利用；包括傳統(tǒng)的物質(zhì)資源回收利用和易腐有機垃圾轉(zhuǎn)換成物質(zhì)資源；
2、能量利用又稱能量回收利用，指將垃圾的內(nèi)能轉(zhuǎn)換成熱能、電能；包括焚燒發(fā)電，供熱和熱電聯(lián)產(chǎn)；
3、填埋處理指對不能進行資源化處理（包括物質(zhì)利用和能量利用）的無用垃圾進行填埋處理；

報廢的電子產(chǎn)品怎么銷毀更環(huán)保：
企業(yè)對廢舊電子產(chǎn)品拆解再利用的行為，國家也制定了相應(yīng)的法律法規(guī)來限制和制約，主要包括：對廢舊電子產(chǎn)品回收后，須交給有的企業(yè)進行拆解，允許再加工修復(fù)作為二手產(chǎn)品銷售，但符合再利用的標準，并且要有標識說明是再利用產(chǎn)品，以達到誰銷售誰負責(zé)的目的。

電子行業(yè)產(chǎn)品可靠性測試
通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設(shè)計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設(shè)計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。

對于大部分電子產(chǎn)品，壽命是主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗往往指的就是壽命試驗。壽命試驗可分為非工作狀態(tài)的存儲壽命試驗和工作狀態(tài)的工作壽命試驗兩類。為了縮短試驗周期、減少樣品數(shù)量和試驗費用，常常采用加速壽命試驗。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗中，常用的應(yīng)力為溫度和電壓。

對電子產(chǎn)品做可靠性檢測主要有以下幾點目的：
1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標的情況；
2、生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)督提供信息；
3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收；
4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及相關(guān)失效模式和失效機理；
5、為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

汽車電子產(chǎn)品的檢測項目：
1、功能/性能測試，車燈的光學(xué)性能、熱學(xué)性能、車載系統(tǒng)的使用功能、光學(xué)性能、聲學(xué)功能等；
2、環(huán)境與可靠性測試，加速壽命測試、高低溫測試、振動測試等；
3、環(huán)保與化學(xué)測試，RoHS檢測、揮發(fā)性有機物檢測等；
4、電磁兼容測試，發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射、抗擾度、傳導(dǎo)抗擾度、傳導(dǎo)瞬態(tài)發(fā)射、傳導(dǎo)瞬態(tài)抗擾度等。

電子產(chǎn)品檢測中心告訴您：電子產(chǎn)品質(zhì)量檢驗都測試些什么東西
1、濕熱試驗
濕度范圍：30%RH～RH。
2、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 沖擊試驗》開展沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
3、低溫試驗
溫度范圍：-70℃～10℃。
4、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 自由跌落試驗》開展跌落試驗。
5、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 碰撞試驗》開展碰撞試驗。
6、低氣壓試驗
開展低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，位移25mmP-P。
8、高溫試驗
溫度范圍：10℃～210℃。
9、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 鹽霧試驗》開展鹽霧試驗。
10、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 長霉試驗》開展霉菌試驗。
我們經(jīng)常會遇到例如電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測電子產(chǎn)品是否接觸不良、是否有噪音、表面是否銹蝕、開裂、變形等情況，這時我們需要采用的儀器抗壓測試儀，絕緣電阻，波形采用的是示波器；電流/電壓等用萬用電表等來做電子產(chǎn)品檢測！

電子產(chǎn)品可靠性檢測機構(gòu)-找訊科標準
可靠性測試
目前，國內(nèi)汽車電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測試手段，一般是在研發(fā)時采用傳統(tǒng)的性能各異的溫濕度箱來驗證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統(tǒng)測試方法。僅依靠以上這些傳統(tǒng)的測試手段，要達到目前國外汽車電子產(chǎn)品的技術(shù)指標，尚存在著一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當(dāng)這些故障發(fā)生時產(chǎn)品往往已超過了時效，尤其是配套應(yīng)用在汽車上的汽車電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車音響﹑多媒體接收系統(tǒng)等。如果不能在早期發(fā)現(xiàn)并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問題，而等其裝配到汽車上，用戶使用一段時間后才讓問題慢慢顯露出來，則會給制造商和用戶帶來大的損失。解決問題，先要發(fā)現(xiàn)問題的所在，借由增加外部環(huán)境應(yīng)力﹑強迫故障提早暴露出來，是早期發(fā)現(xiàn)和解決問題的一個有效方法。
汽車電子可靠性的主要測試功能如下：
* 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計缺陷激發(fā)出來，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設(shè)計能力及失效模式;
* 作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設(shè)計能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計制造周期。
在汽車電子可靠性試驗中可找到被測物在溫度及振動應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限。此實驗所用設(shè)備為QualMark公司所設(shè)計的綜合環(huán)境試驗機(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動機與溫度箱合二為一的設(shè)計可同時對被測物施加溫度與振動應(yīng)力。以下就四個試程的一般情況分別加以說明：
(1)溫度應(yīng)力
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應(yīng)力。先執(zhí)行低溫階段應(yīng)力，設(shè)定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限;在完成低溫應(yīng)力試驗后，可依相同程序執(zhí)行高溫應(yīng)力試驗，即將綜合環(huán)境應(yīng)力試驗機自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。

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