電子產(chǎn)品銷毀公司可以采用泡水法來進行文件銷毀，這樣的話就可以粉碎這些硬盤上的一系列的數(shù)據(jù)，如果是干凈水的話，那么可能會被挽回，如果是臟水，硬盤的資料就無法挽回。
電子產(chǎn)品銷毀范圍：
對于硬盤芯片銷毀、集成電路銷毀、主板銷毀、線路板銷毀、控制器銷毀、硬盤銷毀、數(shù)據(jù)設(shè)備銷毀的銷毀(包括消磁)還沒有具體明確的管理規(guī)定，目前，國家有關(guān)主管部門正在考慮制定相應(yīng)的規(guī)范，確保涉密硬盤等存儲介質(zhì)在維修銷毀過程中的安全。
電子產(chǎn)品一般要做哪些測試
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃。
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～RH。
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
電子產(chǎn)品的可靠性試驗類型：
1、按試驗項目可分為環(huán)境試驗、壽命試驗和特殊試驗；
2、按試驗?zāi)康目煞譃楹Y選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；
3、按試驗性質(zhì)可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。
電子產(chǎn)品檢測機構(gòu)做哪些檢測
電子產(chǎn)品安全認證是電子產(chǎn)品的安全保障，你的顯示器還有你的電腦電源(POWER)上是是否有好多標識呢？如果沒有，可要小心了，電子產(chǎn)品檢測認證也是各廠家對自己產(chǎn)品的一種安全承諾，有關(guān)的，有關(guān)電氣安全的，有關(guān)人身安全的等等。
電子產(chǎn)品可靠性檢測機構(gòu)-找訊科標準
可靠性測試
目前，國內(nèi)汽車電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測試手段，一般是在研發(fā)時采用傳統(tǒng)的性能各異的溫濕度箱來驗證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統(tǒng)測試方法。僅依靠以上這些傳統(tǒng)的測試手段，要達到目前國外汽車電子產(chǎn)品的技術(shù)指標，尚存在著一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當這些故障發(fā)生時產(chǎn)品往往已超過了時效，尤其是配套應(yīng)用在汽車上的汽車電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車音響﹑多媒體接收系統(tǒng)等。如果不能在早期發(fā)現(xiàn)并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問題，而等其裝配到汽車上，用戶使用一段時間后才讓問題慢慢顯露出來，則會給制造商和用戶帶來大的損失。解決問題，先要發(fā)現(xiàn)問題的所在，借由增加外部環(huán)境應(yīng)力﹑強迫故障提早暴露出來，是早期發(fā)現(xiàn)和解決問題的一個有效方法。
汽車電子可靠性的主要測試功能如下：
* 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計缺陷激發(fā)出來，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設(shè)計能力及失效模式;
* 作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設(shè)計能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計制造周期。
在汽車電子可靠性試驗中可找到被測物在溫度及振動應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限。此實驗所用設(shè)備為QualMark公司所設(shè)計的綜合環(huán)境試驗機(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動機與溫度箱合二為一的設(shè)計可同時對被測物施加溫度與振動應(yīng)力。以下就四個試程的一般情況分別加以說明：
(1)溫度應(yīng)力
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應(yīng)力。先執(zhí)行低溫階段應(yīng)力，設(shè)定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限;在完成低溫應(yīng)力試驗后，可依相同程序執(zhí)行高溫應(yīng)力試驗，即將綜合環(huán)境應(yīng)力試驗機自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。
所屬分類：物資回收/銷毀
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