| 供應(yīng)商 | 北京瑞科中儀科技有限公司 店鋪 |
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| 報(bào)價(jià) | 面議 |
| 關(guān)鍵詞 | 電子顯微鏡哪里買(mǎi),電子顯微鏡報(bào)價(jià),掃描蔡司電子顯微鏡,電子顯微鏡代理商 |
| 所在地 | 北京市海淀區(qū)建材城西路50號(hào)2號(hào)樓3層031室 |
10年
Nano-twin 物鏡
Nano-twin 物鏡是一種在低加速電壓條件下 工作的電鏡( EM ) 物鏡。通過(guò)優(yōu)化幾何結(jié) 構(gòu)和靜電場(chǎng)及磁場(chǎng)分布， 獲得出色的信號(hào) 探測(cè)效率， 從而可以在低電壓下達(dá)到亞納 米級(jí)分辨率。具體來(lái)說(shuō)， 與標(biāo)準(zhǔn)的 Gemini 物鏡相比，它在低電壓下的像差降低了 3 倍。這使得樣品上的磁場(chǎng)降低了 3 倍， 約 為 1mT ，并能夠進(jìn)行 1kV 以下亞納米成像， 而無(wú)需將樣品浸沒(méi)在電磁場(chǎng)中。
大部分的背 散射電子能夠穿過(guò) Inlens SE 探測(cè)器，并被 EsB 探測(cè)器收集。此外， Inlens EsB 探測(cè)器 還可有選擇地收集不同能量的背散射電子。 如果出射角大于 15 度， 則 BSE 無(wú)法進(jìn)入鏡 筒，但會(huì)被 AsB (角度選擇背散射) 或可 抽插式 aBSD 探測(cè)器探測(cè)到。aBSD 探測(cè)器 能夠提供樣品的成分襯度、形貌和 3D 表面 信息。樣品室背散射電子探測(cè)器( BSD )和 掃描透射電子探測(cè)器可以在低加速電壓下 擁有更率，且能實(shí)現(xiàn)超速成像。
擴(kuò)展功能
■ 與蔡司電鏡可實(shí)現(xiàn)聯(lián)用, 實(shí)現(xiàn)樣品的多尺 度多維度研究;
■ 搭載第三方配件, 如冷熱臺(tái), 拉伸臺(tái), 實(shí) 現(xiàn)樣品原位 4D 分析;
■ 搭載 Airyscan 實(shí)現(xiàn)高分辨熒光成像;
■ 配置 ZEN Intellesis 軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí) 的圖像分割解決方案,可用于鑒別復(fù)雜樣 品的不同相組織。
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