非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石樣品的儀器。它通過測量礦石樣品在不同波長范圍內的光譜特征，可以確定其成分和結構。 非金屬礦石光譜儀通常采用光電二極管陣列、光柵或干涉儀等光學元件，將樣品反射、透射或發(fā)射的光信號分解成不同波長的光譜。然后，通過對光譜進行分析和比較，可以確定樣品中的元素組成、化學鍵類型、結構特征等信息。 非金屬礦石光譜儀具有高靈敏度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點。

技術參數(shù)：

　　◇測量參數(shù)： 測定C、Si、CEL、△Q、△QM，計算抗拉強度Rm、硬度HB、

　　品質系數(shù)R/H、共結團數(shù)MEG、石墨化因子K

　　◇測量范圍： 按照ICEC584，型號K（Nicr-Ni）200℃-1370℃ C 2.1-4.2 Si 0-20

　　CEL 2.5-5.0

　　◇測量精度： ＜±℃ CEL±0.047% C±0.039% Si±0.1%

　　◇儀器顯示： 4位LED顯示 數(shù)字500mm 分辨率：1℃

技術參數(shù)

　　應用功能：測量白口、灰口鑄鐵的碳、硅含量計算抗拉強度Rm、硬度HB、

　　顯示數(shù)字高度：500mm；

　　溫度補償范圍：0～0.1℃；

　　配套樣杯類型：K型；

　　測量精度：符合GB223.3～5--88標準

　　顯示溫度單位：攝氏或華氏；

　　測量大時間：240秒。

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