目前來看，電子產(chǎn)品銷毀公司在進(jìn)行文件銷毀的過程當(dāng)中，完全可以用刀割盤片的方法直接進(jìn)行銷毀，比如他們可以通過這樣的一種方式，讓整個(gè)硬盤全部都給損壞，基本上也就是，摧毀了整個(gè)硬盤上的詞條，這樣的話，一些小的當(dāng)然還是有可能有機(jī)會(huì)被讀出來的，但是幾率并不是特別大。

電子產(chǎn)品銷毀公司可以采用泡水法來進(jìn)行文件銷毀，這樣的話就可以粉碎這些硬盤上的一系列的數(shù)據(jù)，如果是干凈水的話，那么可能會(huì)被挽回，如果是臟水，硬盤的資料就無法挽回。

電子產(chǎn)品一般要做哪些測(cè)試
1、低溫試驗(yàn)
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗(yàn)
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
溫度范圍：10℃～210℃。
3、濕熱試驗(yàn)
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》；
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》
進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。
濕度范圍：30%RH～RH。
4、霉菌試驗(yàn)
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
5、鹽霧試驗(yàn)
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
6、低氣壓試驗(yàn)
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》；
進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動(dòng)試驗(yàn)
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗(yàn)
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗(yàn)
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。
10、跌落試驗(yàn)
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。

電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)類型：
1、按試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)和特殊試驗(yàn)；
2、按試驗(yàn)?zāi)康目煞譃楹Y選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；
3、按試驗(yàn)性質(zhì)可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。

對(duì)電子產(chǎn)品做可靠性檢測(cè)主要有以下幾點(diǎn)目的：
1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；
2、生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)督提供信息；
3、對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；
4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及相關(guān)失效模式和失效機(jī)理；
5、為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

汽車電子產(chǎn)品的檢測(cè)項(xiàng)目：
1、功能/性能測(cè)試，車燈的光學(xué)性能、熱學(xué)性能、車載系統(tǒng)的使用功能、光學(xué)性能、聲學(xué)功能等；
2、環(huán)境與可靠性測(cè)試，加速壽命測(cè)試、高低溫測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試等；
3、環(huán)保與化學(xué)測(cè)試，RoHS檢測(cè)、揮發(fā)性有機(jī)物檢測(cè)等；
4、電磁兼容測(cè)試，發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射、抗擾度、傳導(dǎo)抗擾度、傳導(dǎo)瞬態(tài)發(fā)射、傳導(dǎo)瞬態(tài)抗擾度等。

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