礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結構的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。
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QCYQ-JS9000B 礦石光譜分析儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。線性動態(tài)范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和分辨率技術的新一代fast sdd檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等）都可達到分析效果。
分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試： 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類
全新設計的XTEST分析軟件 軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質效應，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。 可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。
鐵精粉光譜儀通常采用光學原理，包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下，測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性，然后根據這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀，可以對鐵精粉樣品的化學成分、晶體結構、雜質含量和物理性。
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