| 供應(yīng)商 | 南京乾誠檢測(cè)儀器有限公司 店鋪 |
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| 認(rèn)證 | |
| 報(bào)價(jià) | 面議 |
| 關(guān)鍵詞 | 黃銅礦光譜儀公司,方鉛礦光譜儀多少錢,鎳礦光譜儀廠家,鉻礦光譜儀廠家電話 |
| 所在地 | 江蘇南京高淳區(qū)北嶺路28號(hào) |
13年
礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長(zhǎng)的光束，經(jīng)過光柵的分光作用，將光束分成不同波長(zhǎng)的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后，部分被吸收、反射或透射。檢測(cè)器會(huì)測(cè)量礦石樣品在不同波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。
全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。
鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會(huì)吸收特定波長(zhǎng)的光，而其他波長(zhǎng)的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會(huì)被光譜儀接收并分析。
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