非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石樣品的儀器。它通過測量礦石樣品在不同波長范圍內(nèi)的光譜特征,可以確定其成分和結構。 非金屬礦石光譜儀通常采用光電二極管陣列、光柵或干涉儀等光學元件,將樣品反射、透射或發(fā)射的光信號分解成不同波長的光譜。然后,通過對光譜進行分析和比較,可以確定樣品中的元素組成、化學鍵類型、結構特征等信息。 非金屬礦石光譜儀具有高靈敏度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點。
非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石成分和特性的儀器。它通過測量礦石樣品在不同波長的光下的吸收、反射或發(fā)射情況,來獲取礦石的光譜信息。根據(jù)不同的光譜特征,可以分析礦石的化學成分、晶體結構、礦物組合、顏色特征等。 非金屬礦石光譜儀通常采用光譜儀、光源、樣品臺等組成。其中,光源發(fā)出特定波長的光,并經(jīng)過樣品后,被光譜儀接收和記錄。
非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石樣品的儀器。它利用光譜技術,通過測量樣品在不同波長下的光吸收、反射或發(fā)射特性,來確定樣品的成分、結構和性質。 非金屬礦石光譜儀通常包括以下組成部分:
1. 光源:產(chǎn)生特定波長的光線,常見的光源有氙燈、鎢燈等。
2. 光柵或光晶體:用于分散光線,使不同波長的光線分開。
3. 探測器:用于測量樣品吸收、反射或發(fā)射的光信號,并將其轉化為電信號。
4. 光學系統(tǒng):包括透鏡、光束分束器等。
技術參數(shù):
◇測量參數(shù): 測定C、Si、CEL、△Q、△QM,計算抗拉強度Rm、硬度HB、品質系數(shù)R/H、共結團數(shù)MEG、石墨化因子K
◇測量范圍: 按照ICEC584,型號K(Nicr-Ni)200℃-1370℃ C 2.1-4.2 Si 0-20 CEL 2.5-5.0
◇測量精度: <±℃ CEL±0.047% C±0.039% Si±0.1%
◇儀器顯示: 4位LED顯示 數(shù)字500mm 分辨率:1℃
礦石分析光譜儀
具體測量礦類: 鐵礦(赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 等其它礦類。
礦石分析光譜儀方便野外現(xiàn)場快速準確分析,檢測結果準確,無需化學試劑,能檢測鉭鈮礦,鎳礦,銅礦,錳礦,鐵礦,鉻鐵礦,等,具體看身身需求,分析形狀可以是粉末,可以是固體。對礦石內(nèi)貴金屬,如金,銀等,由于含量比較低,正常情況原礦石分布不均勻,正常情況下需要10個PPM以上才能測試出效果,如果需要更的數(shù)據(jù),建議可以使用化學分析儀器。
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