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上海元器件破壞物理性分析-電子器件試驗方法

更新時間1:2025-09-28 信息編號:153ej07p8c3817 舉報維權
上海元器件破壞物理性分析-電子器件試驗方法
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供應商 廣電計量檢測集團股份有限公司 店鋪
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報價 面議
關鍵詞 元器件破壞物理性分析,上海破壞物理性分析,半導體破壞物理性分析,的破壞物理性分析
所在地 廣東廣州番禺石碁鎮(zhèn)創(chuàng)運路8號廣電計量科技產業(yè)園
曾先生
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5年

產品詳細介紹

電子元器件制造?藝質量?致性是電子元器件滿足其用途和相關規(guī)范的前提。?量假冒翻新元器件充斥著元器件供應市場,如何確定貨架元器件真?zhèn)问抢_元器件使用方的?大難題。廣電計量DPA分析測試能解決這一系列問題,其中檢測項目包括:
●非破壞性項目:外部目檢、X?射線檢查、PIND、密封、引出端強度、聲學顯微鏡檢查;
●破壞性項目:激光開封、化學開封、內部?體成分分析、內部目檢、SEM檢查、鍵合強度、剪切強度、粘接強度、IC取芯片、 芯片去層、襯底檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、ESD測試

廣電計量DPA樣品測要求及過程
1、樣本大小:對于一般元器件,樣本應為生產批總數的2%,但不少于5只也不多于10只;對于價格昂貴或批量很少的元器件,樣本可適當減少,但經有關機構(鑒定、采購或使用機構)批準。
2、抽樣方式:在生產批中隨機抽取。(若有關各方取得一致意見時,同一生產批中電特性不合格但為喪失功能的元器件,可作為DPA樣品)
DPA樣品的背景材料:生產單位、生產批號(或生產日期)、用戶、產品型號、封裝形式…
3、DPA方案要求:樣品背景材料、基本結構信息、DPA檢驗項目、方法和程序、缺陷判據、數據記錄和環(huán)境要求。
4、檢驗項目和方法:應符合合同、相應產品規(guī)范和標準的要求,一般按照標準進行,可根據系統(tǒng)需要適當剪裁。

廣電計量視公信力為企業(yè)生命,技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可和授權,通過了中國合格評定國家認可(CNAS)、中國計量認證(CMA)、農產品質量安全檢測機構(CATL)認可,是國家食品復檢機構、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室。目前已獲得CNAS認可45053項參數,CMA認可65113項參數,CATL認可覆蓋7922項參數;在支撐各區(qū)域產業(yè)發(fā)展過程中,廣電計量還獲得、行業(yè)及社會組織頒發(fā)的資質榮譽200余項?;诒椴既珖姆站W絡和公信力,廣電計量幫助客戶穩(wěn)健開拓本地市場乃至全球市場。

所屬分類:檢測服務/性能檢測

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