Gemini 物鏡的設(shè)計結(jié)合了靜電場與磁場， 在提升光學(xué)性能的同時將它們對樣品的影 響降至低。因此，即便是要求苛刻的樣 品 —— 如磁性材料，也能進(jìn)行成像。 在 Gemini 鏡筒設(shè)計理念中， Inlens 用二次 電子( SE ) 和背散射電子( BSE ) 探測器來 確保的信號檢測。
Inlens 探測器均放置 在鏡筒內(nèi)正光軸上， 在減少重新校準(zhǔn)耗時 的同時有效地縮短了獲取圖像的時間。 Gemini 電子束推進(jìn)器技術(shù)可以在非常 低的加速電壓下仍獲得小束斑和高信噪比。
此外， 它確保了電子束在鏡筒中運(yùn)動時始 終保持高加速電壓， 直至出鏡筒后才減速 至設(shè)定電壓， 更大程度地減小外部雜散磁 場對系統(tǒng)靈敏度的影響。GeminiSEM 360 、 GeminiSEM 460 和 GeminiSEM 560 三 者 均 應(yīng)用了 Gemini 設(shè)計、 Inlens 探測器和電子 束推進(jìn)器技術(shù)。
Gemini 2 型電子光學(xué)鏡筒讓 GeminiSEM 460 成為高束流下獲取高分辨率成像和快速 分析的理想之選。另外，它還集上一代 Gemini 光學(xué)系統(tǒng)的所有優(yōu)勢于一身。例如， 確保了大視野范圍內(nèi)的無畸變 EBSD 分析和 高分辨率成像的物鏡無漏磁設(shè)計。
因此您也能夠在不影響電子光學(xué)性能的前 提下傾斜樣品， 甚至還能輕松完成磁性樣 品成像。
Nano-twin 物鏡
Nano-twin 物鏡是一種在低加速電壓條件下 工作的電鏡( EM ) 物鏡。通過優(yōu)化幾何結(jié) 構(gòu)和靜電場及磁場分布， 獲得出色的信號 探測效率， 從而可以在低電壓下達(dá)到亞納 米級分辨率。具體來說， 與標(biāo)準(zhǔn)的 Gemini 物鏡相比，它在低電壓下的像差降低了 3 倍。這使得樣品上的磁場降低了 3 倍， 約 為 1mT ，并能夠進(jìn)行 1kV 以下亞納米成像， 而無需將樣品浸沒在電磁場中。
? 通過 Nano-twin 物鏡實現(xiàn)低電壓下的優(yōu) 化高分辨率
? 通過新的大視野概覽模式實現(xiàn)樣品導(dǎo)航和 高分辨率成像之間的無縫過渡
? 通過新的自動聚焦功能和新的快速鏡筒對 中算法實現(xiàn)高速優(yōu)化圖像質(zhì)量。
智能自動光路調(diào)節(jié)優(yōu)化了通過鏡筒的電子軌 跡，從而確保了在每個加速電壓下盡可能高 的分辨率。它還引入了新的自動功能，在整 個放大倍數(shù)范圍內(nèi)(從 1 倍到 2,000,000 倍) 實現(xiàn)無縫對準(zhǔn)自由切換，并將觀察視野增 加了 10 倍，從而可以在單幅圖像中完整成 像 13 厘米的物體。GeminiSEM 560 保持了 市場上尺寸達(dá) 32k × 24k 的超大圖像存儲像素， 在大視野無畸變拼接成像方面優(yōu)勢。
全套探測系統(tǒng)： 根據(jù)出射能量和出射角選 擇性地探測樣品的電子
GeminiSEM 系列的全套探測系統(tǒng)有大量不同 的探測器可供選配。通過組合 EsB (能量選 擇背散射) 探測器、 Inlens 二次電子探測器 及 AsB (角度選擇背散射) 探測器獲取樣品 材料、表面形貌或結(jié)晶度的信息。入射電子 與樣品作用后可產(chǎn)生二次電子( SE ) 和背散 射電子( BSE )。從納米級樣品表面逃逸出的、 能量小于 50 eV 的二次電子可用來表征樣 品的表面形貌。這些二次電子可通過特設(shè) 計的電子束推進(jìn)器向后加速進(jìn)入鏡筒，并經(jīng) Gemini 物鏡投射到環(huán)形 Inlens 二次電子探測 器里。 GeminiSEM 可根據(jù)樣品的表面條件在 寬角度范圍內(nèi)探測二次電子。
背散射電子產(chǎn)生于樣品表面之下，可提供 樣品材質(zhì)成分的襯度信息。背散射電子通 常以與入射電子束成 15 度角的圓錐狀出 射， 被 Gemini 鏡筒電子束推進(jìn)器吸入后射 到鏡筒內(nèi)。由于二次電子( SE ) 與背散射 電子( BSE ) 具有不同的能量，它們會在電 子束推進(jìn)器內(nèi)產(chǎn)生不同軌跡。
擴(kuò)展功能
■ 與蔡司電鏡可實現(xiàn)聯(lián)用, 實現(xiàn)樣品的多尺 度多維度研究;
■ 搭載第三方配件, 如冷熱臺, 拉伸臺, 實 現(xiàn)樣品原位 4D 分析;
■ 搭載 Airyscan 實現(xiàn)高分辨熒光成像;
■ 配置 ZEN Intellesis 軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí) 的圖像分割解決方案,可用于鑒別復(fù)雜樣 品的不同相組織。
玉林蔡司場發(fā)射顯微鏡代理
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
?？诓趟緢霭l(fā)射顯微鏡代理
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
陽江卡爾蔡司場發(fā)射顯微鏡
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
梅州ZEISS場發(fā)射顯微鏡應(yīng)用
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
河池卡爾蔡司場發(fā)射顯微鏡市場
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
珠海蔡司場發(fā)射顯微鏡
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
柳州蔡司場發(fā)射顯微鏡代理
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡
江門ZEISS場發(fā)射顯微鏡工作原理
面議
產(chǎn)品名：場發(fā)射顯微鏡