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Bruker 探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）DektakXT (一)、概述 布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dek..09月28日 -
8889.00元公司經(jīng)營(yíng)二手及全新儀器儀表，等基于對(duì)國(guó)內(nèi)儀器儀表市場(chǎng)具體需求狀況和國(guó)際、國(guó)內(nèi)儀器行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)的掌握，我們從眾多產(chǎn)品中精選出了一些技術(shù)*、質(zhì)量可靠、適合各電子行業(yè)的測(cè)量?jī)x器，推薦給..08月18日
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深圳市輪廓儀校準(zhǔn)檢測(cè)第三方實(shí)驗(yàn)室CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu) 促使實(shí)驗(yàn)室能根據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)建立合理的管理體系，并不斷進(jìn)行完善。所以儀器計(jì)量認(rèn)證對(duì)實(shí)驗(yàn)室的很多方面都有一定的作用，做好實(shí)驗(yàn)室的10月01日
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法國(guó)Testia激光輪廓儀維修Testia公司簡(jiǎn)介Testia是一家AIRBUS集團(tuán)公司，在航空航天的無(wú)損檢測(cè)，質(zhì)量檢驗(yàn)和培訓(xùn)領(lǐng)域擁有超過(guò)25年的經(jīng)驗(yàn)。隨著客戶需求不斷增長(zhǎng)的需求，Testia通過(guò)網(wǎng)絡(luò)提供**服務(wù)..10月01日
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美國(guó)ZETA Instruments三維輪廓儀維修ZETA Instruments公司簡(jiǎn)介ZETA Instruments研發(fā)、生產(chǎn)****的多模式光學(xué)測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于多個(gè)高科技行業(yè)，包括：半導(dǎo)體封裝、LED、玻璃制造..10月01日
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美國(guó)Ames Engineering輪廓儀維修Ames Engineering公司簡(jiǎn)介Ames Engineering, AmesEngineering 公司一直在事路面測(cè)量領(lǐng)域的傳感技術(shù)方面處于*的地位，致力于為道路分析和市政服務(wù)提供準(zhǔn)確的數(shù)..10月01日
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美國(guó)AEP Technology光學(xué)輪廓儀維修AEP Technology公司簡(jiǎn)介AEP Technology, AEP是表面測(cè)量和技術(shù)創(chuàng)新的****者。 自成立以來(lái)，它開(kāi)發(fā)了**儀器，以幫助研究人員和用戶。 作為高科技工程創(chuàng)新的，..10月01日
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13500.00元全新德國(guó)馬爾輪廓測(cè)量?jī)xXC2馬爾輪廓儀全新馬爾量具儀器 全新德國(guó)馬爾輪廓測(cè)量?jī)xXC2現(xiàn)貨一臺(tái)，多功能應(yīng)用 雙測(cè)針系統(tǒng)，適用于機(jī)械工程（軸承、螺紋、螺紋桿、滾珠絲杠、軸、齒條），產(chǎn)線附件..09月29日
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布魯克 是表面測(cè)量和檢測(cè)技術(shù)的ling導(dǎo)者，服務(wù)于科研和生產(chǎn)ling域。新一代白光干涉儀系列結(jié)合了的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術(shù)白光干涉儀硬件和的操作簡(jiǎn)易性，是歷年來(lái)來(lái)i的光學(xué)表面..09月28日
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112000.00元產(chǎn)品特點(diǎn) ： CV-3000 日本三豐輪廓儀 可做距離、段差、角度、半徑等尺寸的量測(cè)，還可將設(shè)計(jì)值與量測(cè)值做公差比對(duì) 產(chǎn)品特長(zhǎng)： . Ｘ、Ｚ軸為數(shù)位式光學(xué)尺檢出。由于Ｚ軸為光學(xué)尺檢..09月23日
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公司主營(yíng)檢測(cè)儀器：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、投影儀、二次元影像測(cè)量?jī)x、測(cè)高儀、粗糙度測(cè)量?jī)x、硬度計(jì)、涂層測(cè)厚儀、色差儀、光澤度儀、顯微鏡、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、推拉力計(jì)、卡尺09月09日
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深圳中圖儀器SuperViewW光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉技術(shù)，分辨率達(dá)0.1nm，支持從超光滑到粗糙表面的全類型樣件檢測(cè)。覆蓋半導(dǎo)體、3C電子、光學(xué)加工、汽車零部件、MEMS器件等領(lǐng)域，兼容多種..09月02日
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