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隧道掃描電鏡

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  • 中國掃描電鏡行業(yè)深度調研及發(fā)展前景研究報告2024-2030年
    中國掃描電鏡行業(yè)深度調研及發(fā)展前景研究報告2024-2030年【報告編號】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專遞【報告價格】【紙質版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..
    09月24日
  • TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡MIRA
    TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術優(yōu)點(如改進的電子設備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內置的編程軟件等)..
    09月24日
  • 專業(yè)第三方檢測機構-資質齊全掃描電鏡
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構,具備完整的檢測能力及CNAS資質,能及時有效的提供檢測服務 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..
    09月24日
  • 掃描電鏡分析專業(yè)第三方檢測-CANS資質
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務機構。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設有專業(yè)實驗室22個,主要..
    09月24日
  • 掃描電鏡專業(yè)第三方檢測-CANS資質
    優(yōu)爾鴻信檢測技術昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查(IMC Inspection) 2.錫須觀察(Tin Whisker Inspection) 3.元素分析(Element Analysis) 4.金屬顆粒觀察(Observation of me..
    09月24日
  • CNAS認可第三方檢測機構掃描電鏡分析
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構,具備完整的檢測能力及CNAS資質,能及時有效的提供檢測服務 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..
    09月24日
  • 掃描電鏡第三方檢測中心
    掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術,可用于對形貌和表面特征進行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對樣品進行觀察..
    09月24日
  • 專業(yè)第三方檢測-CANS資質掃描電鏡分析
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構,具備完整的檢測能力及CNAS資質,能及時有效的提供檢測服務 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..
    09月24日
  • 掃描電鏡
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機構,具備完整的檢測能力及CNAS資質,能及時有效的提供檢測服務 包含:環(huán)境可靠性測試、機械可靠性測試、尺寸量測、材料機械性能測試、化學成分分析、清..
    09月24日
  • 掃描電鏡分析
    掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術,可用于對形貌和表面特征進行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對樣品進行觀察..
    09月24日
  • 第三方檢測中心掃描電鏡
    優(yōu)爾鴻信檢測技術昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進行分析測試。放大倍率可達30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..
    09月24日
  • CNAS認可第三方檢測機構掃描電鏡
    SEM+EDS分析: 放大倍數: 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..
    09月24日
  • 江蘇掃描電鏡觀察工業(yè)分析檢測中心
    廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術參數: 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..
    09月24日
  • 日立緊湊型掃描電鏡FlexSEM1000
    FlexSEM1000是日立高新公司最新推出的一款機型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡,擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設計,配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭,具有卓越的
    09月22日
  • HITACHI新型臺式掃描電鏡TM4000plus
    產品簡介:   “TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列的操作過程,大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能,觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Mi..
    09月22日
  • 成都陶瓷材料形貌分析技術場發(fā)射掃描電鏡測試
    優(yōu)爾鴻信檢測成都實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導體檢測設備,可針對電子元件,半導體部件進行質量檢測和失效分析服務。 場..
    09月20日
  • 成都金屬斷面形貌分析技術場發(fā)射掃描電鏡測試
    優(yōu)爾鴻信成都檢測實驗室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導體檢測設備,可針對電子元件,半導體部件進行質量檢測和失效分析服務。 場..
    09月19日
  • 成都電子元器件失效分析技術掃描電鏡加切片測試
    優(yōu)爾鴻信成都檢測SMT實驗室,多年從事SMT制程質量檢測及電子元器件失效分析服務。 掃描電子顯微鏡(簡稱SEM)是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面,并通過探測電子與樣品相互作用產生的信號(..
    09月19日
  • 成都掃描電鏡測試機構-優(yōu)爾鴻信
    優(yōu)爾鴻信成都實驗室擁有場發(fā)射、鎢絲燈等不同的掃描電鏡設備,可開展掃描電鏡SEM形貌分析,和EDS成分分析服務。 在科學研究與工業(yè)生產中,了解材料的微觀結構對于產品開發(fā)和性能優(yōu)化至關重要..
    09月19日
  • FIB掃描電鏡配件產品
    淮安富匯電子有限公司出售FIB加工/電路修改/FIB切線/FIB連線/鋁線路互連/銅線路互連/金線路互連/FIB200/FIB800/FEI DB235。電鏡型號:Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。
    09月17日
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