- 信息報(bào)價(jià)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介: “TM4000”和“TM4000Plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列的操作過程,大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能,觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Mi..09月22日
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FlexSEM1000是日立高新公司最新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡,擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì),配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭,具有卓越的09月22日
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2480.00元日本【 日立HITACHI 】 51E-0240掃描電鏡燈絲 51E-0240 原裝日本【 日立HITACHI 】 51E-0240掃描電鏡燈絲 51E-0240 原裝現(xiàn)貨日本【 日立HITACHI 】 51E-0240掃描電鏡燈絲 51E-0240 原裝現(xiàn)貨日..05月27日
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200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù): 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場(chǎng)發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..09月25日
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中國(guó)掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報(bào)告2024-2030年【報(bào)告編號(hào)】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專遞【報(bào)告價(jià)格】【紙質(zhì)版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..09月25日
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TESCAN--場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等)..09月24日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年,是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年,是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..09月25日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍 1.IMC檢查(IMC Inspection) 2.錫須觀察(Tin Whisker Inspection) 3.元素分析(Element Analysis) 4.金屬顆粒觀察(Observation of me..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..09月25日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..09月25日
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面議掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..09月25日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對(duì)表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測(cè)試。放大倍率可達(dá)30萬(wàn)倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..09月25日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..09月25日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)成都實(shí)驗(yàn)室配有場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備,可針對(duì)電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)和失效分析服務(wù)。 場(chǎng)..09月20日
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優(yōu)爾鴻信成都實(shí)驗(yàn)室擁有場(chǎng)發(fā)射、鎢絲燈等不同的掃描電鏡設(shè)備,可開展掃描電鏡SEM形貌分析,和EDS成分分析服務(wù)。 在科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)中,了解材料的微觀結(jié)構(gòu)對(duì)于產(chǎn)品開發(fā)和性能優(yōu)化至關(guān)重要..09月19日
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450.00元優(yōu)爾鴻信成都檢測(cè)SMT實(shí)驗(yàn)室,多年從事SMT制程質(zhì)量檢測(cè)及電子元器件失效分析服務(wù)。 掃描電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱SEM)是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面,并通過探測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)(..09月19日
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黃頁(yè)88網(wǎng)提供2025最新日立掃描電鏡價(jià)格行情,提供優(yōu)質(zhì)及時(shí)的日立掃描電鏡圖片、多少錢等信息。批發(fā)市場(chǎng)價(jià)格表的產(chǎn)品報(bào)價(jià)來源于共5家日立掃描電鏡批發(fā)廠家/公司提供的45252條信息匯總。