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臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格-桌面型掃描電鏡規(guī)格參數(shù) TEL:15-301-310-116 秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡ZEM15。 ZEM15掃描速度快..04月18日 -
ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡-桌面型掃描電鏡價(jià)格 TEL:15-301-310-116 秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡ZEM15。 ZEM15掃描速..04月18日
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北京國產(chǎn)掃描電子顯微鏡-桌面型掃描電鏡-SEM顯微鏡價(jià)格 TEL:15-301-310-116 秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡ZEM15。 ZEM15..04月18日
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深圳中圖儀器CEM3000毫米級(jí)超大景深桌面掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，了高放大倍數(shù)下的清晰成像，用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析，能夠滿足納米尺度的形貌觀..12月03日
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產(chǎn)品簡介： “TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列的操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Mi..09月22日
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深圳中圖儀器CEM3000國產(chǎn)掃描電鏡全系列電鏡均具有的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡，不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和..09月02日
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200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù)： 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍，穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..09月27日
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中國掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報(bào)告2024-2030年【報(bào)告編號(hào)】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專遞【報(bào)告價(jià)格】【紙質(zhì)版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..09月27日
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TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等）..09月26日
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優(yōu)爾鴻信成都檢測實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備，可針對(duì)電子元件，半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月26日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..09月27日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月27日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..09月27日
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優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..09月27日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月27日
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面議掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..09月27日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月27日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..09月27日
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面議掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..09月27日
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面議優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對(duì)表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測試。放大倍率可達(dá)30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..09月27日
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