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金屬元素分析儀可以廣泛用于對鋼鐵、銅鋁及其合金等各種玄色和有色金屬、非金屬材料中的硅、錳、磷、鎳、鉻、銅等多種元素的含量分析,金屬元素分析儀就可以更好的知足冶金、機械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗等方面臨各種材料多元素分析的需要。
以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備:
X 射線熒光光譜儀(XRF):
工作原理:當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時,會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子,使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時,會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點:可快速同時分析多種元素,從鈉(Na)到鈾(U)的元素范圍均可檢測,適用于各種形態(tài)的樣品,包括粉末、固體和液體,且無損檢測,不會對樣品造成損害。例如,天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀,具有數(shù)字多道技術(shù),測試速度快、精度高,能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用:廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域,可確定礦石的成分和品位,幫助指導(dǎo)開采和加工過程。
紅外光譜儀:
工作原理:利用物質(zhì)分子對紅外光的吸收特性進行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會對特定波長的紅外光產(chǎn)生吸收,通過測量樣品對紅外光的吸收光譜,可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息,進而識別礦石中的礦物成分。
特點:能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息,可用于定性分析非金屬礦石中的有機物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分,操作相對簡便,分析速度較快。
應(yīng)用:常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機質(zhì)等成分的分析,在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測中應(yīng)用較多。
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