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復(fù)坦希FL-6探針臺探針夾具探針臺

更新時間:2022-07-13 信息編號:6c1oolh4p3851e
復(fù)坦希FL-6探針臺探針夾具探針臺
  • 10000.00 元

  • FL系列探針臺,FL-8,探針夾具,探針臺

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詳情介紹

復(fù)坦希FL-6探針臺探針夾具探針臺

產(chǎn)品別名
FL系列探針臺,FL-8,探針夾具,探針臺
面向地區(qū)

探針臺如何工作?


探針臺可以固定晶圓或芯片,并定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,并使用顯微鏡將探針放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針都被設(shè)置在正確的位置,就可以對待測物進(jìn)行測試。

對于帶有多個芯片的晶圓,使用者可以抬起壓盤,壓盤將探針頭與芯片分開,然后將工作臺移到下一個芯片上,使用顯微鏡找到的位置,壓板降低后下一個芯片可以進(jìn)行測試。半自動和全自動探針臺系統(tǒng)使用機(jī)械化工作臺和機(jī)器視覺來自動化這個移動過程,提高了探針臺生產(chǎn)率。半導(dǎo)體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類:驗證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。


探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺外,晶圓檢測環(huán)節(jié)還需要使用測試儀/機(jī),測試儀/機(jī)用于檢測芯片功能和性能,探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機(jī)的連接,通過探針臺和測試機(jī)的配合使用,可以對晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測試或射頻測試,可以對芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。



FL系列探針臺

功能/型號

FL-6

FL-8

FL-12

樣品臺尺寸

6英寸

8英寸

12英寸

樣品吸附方式

真空吸附

樣品臺旋轉(zhuǎn)

360度旋轉(zhuǎn),±10度微調(diào)

樣品臺升降

,10mm升降行程

樣品臺行程

155mm*155mm

210mm*210mm

310mm*310mm

樣品臺移動精度

2um

顯微鏡固定

龍門架結(jié)構(gòu),提高顯微鏡的移動精度

顯微鏡移動行程

50mm*50mm

顯微鏡類型

單筒顯微鏡、體視顯微鏡、金相顯微鏡

顯微鏡倍率

2000X

顯微鏡移動

平移臺精密移動

針座平臺

U型結(jié)構(gòu),可兼容探針卡

針座平臺升降

可快速升降10mm,微調(diào)升降20mm

探針座數(shù)量

8個

10個

10個

探針座移動行程

12mm*12mm*12mm

探針座移動精度

5um/2um/1um/0.7um/0.5um

探針夾具

同軸線纜/三軸線纜

接頭類型

三軸接頭/同軸接頭/香蕉頭/射頻接頭等

探針

鎢鋼或者鈹銅,針尖半徑可選

可搭配儀器

源表/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/萬用表/示波器/網(wǎng)絡(luò)分析儀等

其他附件

高溫配置、鍍金樣品臺、屏蔽箱、光學(xué)平臺、轉(zhuǎn)接頭、轉(zhuǎn)接線

公司所有產(chǎn)品出廠都經(jīng)過嚴(yán)格測試,產(chǎn)品質(zhì)量,公司所有產(chǎn)品通過CE認(rèn)證,通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證。







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