目前來看，電子產(chǎn)品銷毀公司在進行文件銷毀的過程當中，完全可以用刀割盤片的方法直接進行銷毀，比如他們可以通過這樣的一種方式，讓整個硬盤全部都給損壞，基本上也就是，摧毀了整個硬盤上的詞條，這樣的話，一些小的當然還是有可能有機會被讀出來的，但是幾率并不是特別大。

電子產(chǎn)品銷毀公司可以采用泡水法來進行文件銷毀，這樣的話就可以粉碎這些硬盤上的一系列的數(shù)據(jù)，如果是干凈水的話，那么可能會被挽回，如果是臟水，硬盤的資料就無法挽回。

廢舊電子產(chǎn)品處理絕不僅僅是直接填埋或是直接焚毀這么簡單，因為電子產(chǎn)品中含有大量重金屬，使用這兩種方造成環(huán)境的嚴重破壞，填埋有毒有害玩具會致使土地資源被污染，嚴重的可能會污染至地下水；導致喝過污染水的人畜患上惡性疾病，而焚燒有毒如果沒有的處理，極易造成大氣污染以及有毒氣體蔓延，造成不可想象的災難，

電子產(chǎn)品一般要做哪些測試
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃。
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～RH。
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。

對電子產(chǎn)品做可靠性檢測主要有以下幾點目的：
1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況；
2、生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質量監(jiān)督提供信息；
3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收；
4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及相關失效模式和失效機理；
5、為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電子產(chǎn)品可靠性檢測機構-找訊科標準
可靠性測試
目前，國內汽車電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測試手段，一般是在研發(fā)時采用傳統(tǒng)的性能各異的溫濕度箱來驗證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統(tǒng)測試方法。僅依靠以上這些傳統(tǒng)的測試手段，要達到目前國外汽車電子產(chǎn)品的技術指標，尚存在著一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當這些故障發(fā)生時產(chǎn)品往往已超過了時效，尤其是配套應用在汽車上的汽車電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車音響﹑多媒體接收系統(tǒng)等。如果不能在早期發(fā)現(xiàn)并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問題，而等其裝配到汽車上，用戶使用一段時間后才讓問題慢慢顯露出來，則會給制造商和用戶帶來大的損失。解決問題，先要發(fā)現(xiàn)問題的所在，借由增加外部環(huán)境應力﹑強迫故障提早暴露出來，是早期發(fā)現(xiàn)和解決問題的一個有效方法。
汽車電子可靠性的主要測試功能如下：
* 利用高環(huán)境應力將產(chǎn)品設計缺陷激發(fā)出來，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設計能力及失效模式;
* 作為高應力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設計能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設計制造周期。
在汽車電子可靠性試驗中可找到被測物在溫度及振動應力下的可操作界限與破壞界限。此實驗所用設備為QualMark公司所設計的綜合環(huán)境試驗機(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動機與溫度箱合二為一的設計可同時對被測物施加溫度與振動應力。以下就四個試程的一般情況分別加以說明：
(1)溫度應力
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應力。先執(zhí)行低溫階段應力，設定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限;在完成低溫應力試驗后，可依相同程序執(zhí)行高溫應力試驗，即將綜合環(huán)境應力試驗機自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。