5001E滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測，并可整合動(dòng)態(tài)量測 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測點(diǎn)可高達(dá)2560測試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。
5001E在線測試儀規(guī)格參數(shù)
測試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
測試步驟 步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測試時(shí)間 開路/短路測試:每1000點(diǎn)約1.5Sec(Typical DUT)
元件測試:每一元件約0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
測試范圍 電阻:0.1Ω至40MΩ電晶體: ±5V
電容:1.0PF至40mF Zener二極體: 標(biāo)準(zhǔn)配備,0.1V至48V

規(guī)格
. 測試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字)
. 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7
. 測試治具 兩段式壓床
. 可測電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長) 300 mm x (高) 100 mm
選配: (寬) 500 mm x (長) 350 mm x (高) 100 mm

. 模擬硬件
1、六線式量測
2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源
3、AC/DC電壓源, DC電流源量測
4、元件R/L/C量

. 選配硬件
。模擬測試
1、TestJet技術(shù)非向量式開路檢測，任意波形產(chǎn)生器(AWG)
。數(shù)字測試
1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì)
2、待測板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、邊界掃描, BGA Tree測試能力
5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄TR-5001E
選ICT 二手TR5001E

測試資料統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個(gè)測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。

網(wǎng)路即時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則每一臺(tái)ICT的測試統(tǒng)計(jì)資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺(tái)電腦上顯示，管理者可以很方便地隨時(shí)查看生產(chǎn)線的狀況。
網(wǎng)路錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤圖形顯示。
待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良零件或焊點(diǎn)的位置，亦可在零件位置查詢時(shí)顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程式調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)路連線系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢?zāi)簧巷@示出來.