AT-01在線測(cè)試儀 AT-01可對(duì)PCB上的所有部件，進(jìn)行自動(dòng)隔離，便于您進(jìn)行準(zhǔn)確而方便的檢測(cè) AT-01在線測(cè)試儀 使用者分類(lèi)及設(shè)置密碼

AT-01在線測(cè)試儀 為了防止對(duì)AT-01測(cè)試程序的任意修改，對(duì)使用者進(jìn)行分類(lèi)并相應(yīng)賦予權(quán)限，具體分為：“操作員”，“技術(shù)員”，“工程師”，修改程序內(nèi)容輸入密碼才可有效 AT-01在線測(cè)試儀 設(shè)備自檢

AT-01在線測(cè)試儀 利用條碼機(jī)讀取所有測(cè)試后PCB上的條形碼，以便對(duì)生產(chǎn)產(chǎn)品或維修產(chǎn)品進(jìn)行有效的管理 AT-01在線測(cè)試儀 條形碼輸入

AT-01在線測(cè)試儀 結(jié)構(gòu)掃描的特點(diǎn) 1. 快速準(zhǔn)確的檢測(cè)出SMT部件的開(kāi)路 2 .可以檢測(cè)BUS部件 3. Capacitive Coupling Test 4. 可準(zhǔn)確的測(cè)試連接器和插座及插口 5. 測(cè)試速度非常快 6. 無(wú)須部件技術(shù)參數(shù) 7. 不影響板子的細(xì)微形象

AT-01在線測(cè)試儀 邊緣掃描測(cè)試 測(cè)試基板的*新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) IEEE Standard 1149.1Flash記憶棒安裝在PCB的狀態(tài)下利用JTAG(Boundary-Scan 1149.1)測(cè)試對(duì)IC進(jìn)行短路檢查，PCB光板測(cè)試等基本項(xiàng)目與IC內(nèi)部程序測(cè)試。 AT-01在線測(cè)試儀

主要測(cè)試電路板的開(kāi)短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等元件！ 早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類(lèi)別中，但因ATE測(cè)試相 基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！

全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有安捷倫(美國(guó))，泰瑞達(dá)(美國(guó))、德智（DEZHI)、JET(捷智）、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。

80年代臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更日本韓國(guó)臺(tái)灣及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至今日，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!

慨述 1.1 定義 ICT在線測(cè)試儀，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。