ICT設(shè)備的制造廠家各異,全球主要ICT自動測試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國),Teradyne泰瑞達(dá)(美國)、Check Sum(美國)、AEROFLEX(美國)、WINCHY瑩琦、Hioki(日本)、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya(日本)、Tescon(日本), Okano(日本)、系統(tǒng)(臺灣)、JET(捷智)、TRI(德律)、SRC星河、安碩(ANSO)、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。
二手TR-5001E 運用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定,滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點的產(chǎn)品或大批量之制程,無疑是一臺抵兩臺的選擇,無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 二手德律ICT在線測試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣 二手ICT,ICT在線測試儀,線路板檢測儀,二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT,OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT
二手德律TR5001E ICT的功能能在數(shù)秒鐘內(nèi)檢出電路板上的零件-電阻、電容、電感、電晶體、二級管、穩(wěn)壓二級管、光偶器、繼電器等零件。能夠先找出制程不良所在,如漏件、錯件、開路、短路、反向等不良問題。能夠?qū)⑸鲜鰡栴}以印表機(jī)印出結(jié)果,包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值等,以供維修人員查看。
二手德律ICT在線測試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣 二手ICT,ICT在線測試儀,線路板檢測儀,二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT,OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT, 規(guī)格 . 測試點數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字) . 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7 . 測試治具 兩段式壓床 . 可測電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長) 300 mm x (高) 100 mm
選配: (寬) 500 mm x (長) 350 mm x (高) 100 mm . 模擬硬件 1、六線式量測 2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源 3、AC/DC電壓源, DC電流源量測 4、元件R/L/C量 . 選配硬件 。模擬測試 1、TestJet技術(shù)非向量式開路檢測,任意波形產(chǎn)生器(AWG) 。數(shù)字測試 1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動/接收比設(shè)計 2、待測板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、邊界掃描, BGA Tree測試能力 5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄TR-5001E 選ICT 二手TR5001E
二手TR-5001E元件測試儀 性,成本低,適合選擇 美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路難以完整偵測的問題,成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后,已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù),大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測試效果。
定義 在線測試,ICT,In-Circuit Test,是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件
飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測試,優(yōu)點是不需制作夾具,程序開發(fā)時間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試,故障覆蓋率高,但對每種單板需制作的針床夾具,夾具制作和程序開發(fā)周期長。
測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點上,故障定位準(zhǔn)確。對故障的維修不需較多知識。采用程序控制的自動化測試,操作簡單,測試快捷迅速,單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。
7年