垂直探針可以對應高密度信號觸點的待測半導體產品的細間距排列，針尖接觸待測半導體產品所需的縱向位移可以通過針體本身的彈性變形來提供。懸臂探針為探針部提供適當的縱向位移，用于通過橫向懸臂接觸待測半導體產品，以避免探針部對待測半導體產品施加過大的針壓。

由于半導體產品的生產過程十分復雜，任何一個環(huán)節(jié)出現錯誤都可能導致大量產品質量不合格，甚至對終的應用產品的性能產生重大影響。因此，測試在半導體產品的生產過程中具有非常重要的地位，貫穿于半導體產品的設計、制造、包裝和應用的整個過程中。

探針是半導體試驗所需的重要耗材。通過與試驗機、分揀機、探針臺配合使用，可以篩選出產品設計缺陷和制造缺陷，用于設計驗證、晶圓試驗和成品試驗。它在確保產品產量、控制成本、指導芯片設計和工藝改進方面發(fā)揮著重要作用。

探針，作為一種精密的檢測工具，在科學研究、工業(yè)制造、醫(yī)學診斷等領域中扮演著至關重要的角色。它是一種能夠與被測物體表面接觸或非接觸交互，從而獲取物理、化學、生物等多方面信息的產品。其中，五孔探針的設計與應用廣泛多樣，從簡單的機械觸點到復雜的電子傳感器，都在各領域發(fā)揮重要作用。

物理處理主要包括粉碎和篩分。，廢料被送入粉碎機進行粉碎，使其變?yōu)檩^小的顆粒。然后，顆粒通過篩網進行分級，分離出不同粒度的廢料。

化學處理是提取金屬價值的關鍵步驟。一種常用的方法是浸出法。廢料顆粒被置于酸性溶液中，稀釋酸可以溶解鍍金探針中的金屬。然后，通過化學反應和沉淀，將金屬分離出來。