礦物分析儀有哪些作用呢?
礦物的顏色多種多樣。呈色的原因,一類是白色光通過礦物時,內(nèi)部發(fā)生電子躍遷過程而引起對不同色光的選擇性吸收所致;另一類則是物理光學(xué)過程所致。導(dǎo)致礦物內(nèi)電子躍遷的內(nèi)因,主要的是色素離子的存在,如Fe3+使赤鐵礦呈紅色,V3+使釩榴石呈綠色等。是晶格缺陷形成“色心”,如螢石的紫色等。礦物學(xué)中一般將顏色分為3類:自色是礦物固有的顏色;他色是指由混入物引起的顏色;假色則是由于某種物理光學(xué)過程所致。如斑銅礦新鮮面為古銅紅色,氧化后因表面的氧化薄膜引起光的干涉而呈現(xiàn)藍紫色的錆色。礦物內(nèi)部含有定向的細微包體,當轉(zhuǎn)動礦物時可出現(xiàn)顏色變幻的變彩,透明礦物的解理或裂隙有時可引起光的干涉而出現(xiàn)彩虹般的暈色等。礦物在白色無釉的瓷板上劃擦?xí)r所留下的粉末痕跡。條痕色可消除假色,減弱他色,通常用于礦物鑒定。
非金屬礦石分析儀具有快速、準確、無損等特點,被廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)資源開發(fā)、環(huán)境監(jiān)測和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。此外,使用礦物分析儀還可以運用地理、距離、化學(xué)、材料等綜合有用的找礦方法進行綜合有用的找礦作業(yè),充分發(fā)揮各種資源的利用價值。其實地質(zhì)勘探的概率很大。如果選擇合理的勘探方法,可以降低風險,提高勘探精度。
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現(xiàn)在國內(nèi)社會經(jīng)濟的發(fā)展迅速,日新月異,國內(nèi)現(xiàn)在的目前的礦業(yè)正處于轉(zhuǎn)型期間,或多或少對環(huán)境還是有污染,朝著生態(tài)環(huán)保、發(fā)展、資源節(jié)約、技術(shù)創(chuàng)新是礦業(yè)的發(fā)展方向,東南亞及非洲的礦業(yè)發(fā)展非常迅速,這對礦產(chǎn)采選、冶煉、深加工等環(huán)節(jié)中對礦產(chǎn)品質(zhì)檢測有了更嚴格的要求。
礦石檢測分析儀應(yīng)用于地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦石品位鑒定、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)控等領(lǐng)域。從理論上講,任何含有鐵元素或鐵化合物的礦石都可以稱為鐵礦石,因此都可以使用科邁斯礦石分析儀;但是,在工業(yè)或商業(yè)上,鐵礦石不同于錳礦石,鐵礦石不僅要含鐵,而且要有利用的價值。
隨著各個行業(yè)對金屬材料需求不斷增長,各種復(fù)雜的材料也多起來,金屬成分組成是決定材料的主要因素。因此,金屬成分檢測方法也在不斷更新,由單一元素檢測到多個元素檢測,不僅快速且非常準確。金屬成分分析儀是采用XRF(熒光光譜分析)原理,對金屬材料成分進行快速檢測的儀器。
非金屬分析儀是一種用于分析非金屬材料成分、結(jié)構(gòu)和性能的儀器。它可以通過不同的測試方法和技術(shù),對非金屬材料進行化學(xué)分析、物理性能測試和結(jié)構(gòu)分析等。 常見的非金屬分析儀包括掃描電子顯微鏡(SEM)、能譜儀(EDS)、紅外光譜儀(FTIR)、拉曼光譜儀、熱分析儀(TGA/DSC)等。 這些儀器可以通過不同的測試方法提供材料的各項性能指標,比如SEM可以觀察樣品表面形貌和微觀結(jié)構(gòu),EDS可以進行元素分析,F(xiàn)TIR可以分析材料的化學(xué)成分,拉曼光譜儀可以分析材料的分子結(jié)構(gòu)。
非金屬礦石分析儀是一種用于分析非金屬礦石樣品中元素組成和含量的儀器設(shè)備。它利用各種分析技術(shù),如光譜分析、化學(xué)分析、質(zhì)譜分析等,對礦石樣品進行定性和定量分析,以確定其中的元素種類和含量。 非金屬礦石分析儀廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)資源勘查、礦石加工、冶煉和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。它可以幫助礦山企業(yè)準確評估礦石資源的品位和儲量,優(yōu)化礦石加工工藝,控制產(chǎn)品質(zhì)量,提高生產(chǎn)效率和經(jīng)濟效益。
電子顯微鏡:
工作原理:利用電子束代替可見光來成像,電子束與樣品相互作用,產(chǎn)生各種信號,如二次電子、背散射電子等,通過檢測這些信號來獲得樣品的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。
特點:具有高分辨率,能觀察到礦石樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形貌,可用于分析礦石的晶體結(jié)構(gòu)、礦物共生關(guān)系、雜質(zhì)分布等,還可配備能譜儀進行微區(qū)成分分析。
應(yīng)用:在非金屬礦石研究中,用于深入了解礦石的微觀特征,指導(dǎo)礦石的選礦和加工工藝設(shè)計,以及研究礦石的成因和演化等。例如,在云母礦的研究中,通過電子顯微鏡可觀察云母的晶體結(jié)構(gòu)和層間雜質(zhì),為云母的提純和應(yīng)用提供依據(jù)。