金屬元素分析儀是一種常用的分析儀器，可以更好的滿足冶金、機械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗等方面對材料多元素分析。金屬元素分析儀在目前廣泛使用的光電比色儀的基礎(chǔ)上，多設(shè)通道從根本上解決了光電比色元素分析儀波長，檢測材料可以多種多樣，適合很多金屬制造業(yè)、機械制造業(yè)、鑄造企業(yè)對材料的檢測分析。

隨著各個行業(yè)對金屬材料需求不斷增長，各種復(fù)雜的材料也多起來，金屬成分組成是決定材料的主要因素。因此，金屬成分檢測方法也在不斷更新，由單一元素檢測到多個元素檢測，不僅快速且非常準(zhǔn)確。金屬成分分析儀是采用XRF（熒光光譜分析）原理，對金屬材料成分進行快速檢測的儀器。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時，會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時，會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點：可快速同時分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。