“氪氣雜質(zhì)含量檢測”通常是指對氪氣（Krypton, Kr）中所含雜質(zhì)氣體的檢測與分析。氪氣是一種稀有氣體，常用于照明、激光、半導體制造、航空航天等領域。在這些應用中，高純度的氪氣至關重要，因此需要對其中的雜質(zhì)進行嚴格檢測。 一、氪氣雜質(zhì)檢測的重要性 影響產(chǎn)品性能 ：如在半導體制造中，雜質(zhì)影響材料的電學特性。 安全要求 ：某些雜質(zhì)具有毒性或可燃性，需控制其含量。 法規(guī)標準 ：不同行業(yè)對氪氣純度有不同的標準（如電子級、工業(yè)級等）。 二、常見的氪氣雜質(zhì)種類 | 雜質(zhì)類型 | 常見物質(zhì) | 檢測意義 | | | | | | 氮氣 (N?) | N? | 影響光譜特性 | | 氧氣 (O?) | O? | 引起氧化反應 | | 氫氣 (H?) | H? | 引發(fā)爆炸風險 | | 二氧化碳 (CO?) | CO? | 腐蝕設備 | | 水蒸氣 (H?O) | H?O | 引起冷凝、腐蝕等 | | 氬氣 (Ar) | Ar | 作為常見惰性氣體，但會影響氪氣純度 | | 其他稀有氣體 | 如氖（Ne）、氙（Xe）等 | 造成成分偏差 | 三、檢測方法

1. 氣相色譜法（GC） 原理 ：利用不同氣體在色譜柱中的保留時間差異進行分離和定量。 適用性 ：適用于痕量雜質(zhì)（ppm~ppb級）的檢測。 常用檢測器 ：TCD（熱導檢測器）、FID（氫火焰離子化檢測器）等。

2. 2. 質(zhì)譜法（MS） 原理 ：將氣體分子電離后根據(jù)質(zhì)荷比進行分析。 優(yōu)點 ：靈敏度高，可同時檢測多種雜質(zhì)。 聯(lián)用技術 ：GC MS、ICP MS（等離子體質(zhì)譜）等。

3. 3. 紅外光譜法（IR） 原理 ：利用不同氣體對特定波長紅外光的吸收特性。 適用性 ：適用于CO?、H?O等極性分子的檢測。

4. 4. 激光吸收光譜法 原理 ：利用激光在特定波長下的吸收強度來檢測目標氣體。 優(yōu)點 ：非接觸、在線檢測、精度高。

5. 5. 化學分析法 ：氧含量可用氧化銅法測定；水分可用卡爾·費休法等。 四、檢測標準與規(guī)范 不同國家和地區(qū)有不同的標準，： GB/T 17879 1999 《工業(yè)氪》 AS D6305 《Standard Test Method for Trace Impurities in Krypton Using Gas Chromatography》 ISO 4179 稀有氣體純度分析相關標準 五、檢測流程（簡要）

6. 1. 樣品采集 ：使用采樣器，避免污染。

7. 2. 預處理 ：如脫水、過濾等。

8. 3. 儀器校準 ：使用標準氣體進行標定。

9. 4. 檢測分析 ：選擇合適的方法進行檢測。