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設(shè)計亮點
全新的下照式設(shè)計，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為，大減少您擺放樣品的時間。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實現(xiàn)了對較小產(chǎn)品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合距離補(bǔ)正算法，實現(xiàn)了對不規(guī)則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測試面的測試。
貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％
EDX600Plus 是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗，以特的產(chǎn)品配置、功能的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設(shè)計，使測試工作更加輕松完成。
EDX600Plus貴金屬檢測儀使用而實用的正比計數(shù)盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作更人性化、更方便。
