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技術(shù)參數(shù)：
* 檢測范圍 0--600mm
* 鋼板溫度 0--1200°C
* 鋼板速度 0--25m/s
* 采樣時間 優(yōu)于1ms
* 測量精度 動態(tài)優(yōu)于±0.03%
* 安裝方式 根據(jù)要求定制
X射線測厚儀利用X射線管通電產(chǎn)生X射線作為信號源，根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉(zhuǎn)換檢測薄膜的厚度，它的特點是放射物質(zhì)能量低，無需使用許可證，測量精度高，可測量透明或不透明材料，不受添加劑和色母料的影響，不受環(huán)境溫度和薄膜抖動影響。
兩個激光位移傳感器的激光對射，被測體放置在對射區(qū)域內(nèi)，根據(jù)測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。
的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結(jié)果顯示系統(tǒng)。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當(dāng)被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地成像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成電離室檢測頭，離子室設(shè)計具有大空間，高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元，延長系統(tǒng)的使用壽命。
薄膜測厚儀根據(jù)程序預(yù)先設(shè)定的計算公式，通過組合不同的標(biāo)樣厚度并將其置于射線下測量，以得到一組基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，并存于PLC中。
薄膜測厚儀由于工作現(xiàn)場環(huán)境復(fù)雜，系統(tǒng)工作一段時間后由于各種因素的干擾，系統(tǒng)會產(chǎn)生基準(zhǔn)漂移。這時通過系統(tǒng)效驗?zāi)K可以修復(fù)這種漂移，以系統(tǒng)測量的準(zhǔn)確性
