半導(dǎo)體測(cè)試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測(cè)試和半導(dǎo)體成品測(cè)試。它起著連接芯片/晶圓與測(cè)試設(shè)備，并進(jìn)行信號(hào)傳輸?shù)暮诵淖饔茫瑢?duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針一般由精密儀器鉚接預(yù)壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個(gè)基本部件。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達(dá)到微米級(jí)。它是一種精密電子元器件，具有較高的制造技術(shù)含量。

在晶圓或芯片測(cè)試的過程中，通常會(huì)使用探針來(lái)準(zhǔn)確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測(cè)試機(jī)，以便檢測(cè)產(chǎn)品的導(dǎo)通性、電流性、功能性和老化性等性能指標(biāo)。

可彈性探針是一個(gè)由螺旋彈簧組成的探針，其兩端連接在上下柱栓上。螺旋彈簧的中間部分緊密纏繞在一起，以防止產(chǎn)生額外的電感和附件電阻。而彈簧的兩端部分則被稀疏纏繞，以降低探針對(duì)被測(cè)試物體的壓力。在檢測(cè)集成電路時(shí)，信號(hào)會(huì)從下柱栓流向上方，形成導(dǎo)電路徑。

探針是半導(dǎo)體試驗(yàn)所需的重要耗材。通過與試驗(yàn)機(jī)、分揀機(jī)、探針臺(tái)配合使用，可以篩選出產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和制造缺陷，用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓試驗(yàn)和成品試驗(yàn)。它在確保產(chǎn)品產(chǎn)量、控制成本、指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)方面發(fā)揮著重要作用。

在眾多探針技術(shù)中，五孔探針是一種應(yīng)用于流體動(dòng)力學(xué)領(lǐng)域，特別是對(duì)于復(fù)雜流場(chǎng)特性測(cè)量的工具。它的設(shè)計(jì)基于伯努利原理和流體連續(xù)性方程，主要用于測(cè)量氣流的速度、壓力分布以及流場(chǎng)的湍流特性。五孔探針因其結(jié)構(gòu)包含五個(gè)開孔而得名，這五個(gè)孔一般按照特定的幾何布局排列。

在收集到的鍍金探針廢料中，可能包含其他金屬和非金屬雜質(zhì)。因此，分揀是必要的步驟，以便將廢料分類和分離。分揀可以通過人工或自動(dòng)化設(shè)備進(jìn)行。人工分揀需要經(jīng)過培訓(xùn)的工作人員，他們根據(jù)廢料的類型和特征進(jìn)行分類。自動(dòng)化設(shè)備可以通過傳感器和圖像識(shí)別技術(shù)自動(dòng)分揀廢料。