X射線鍍層測厚儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的儀器。工作原理是利用X射線穿透材料，通過測量X射線的透射率來確定涂層的厚度。這種儀器通常用于工業(yè)生產(chǎn)中的表面涂層質量控制和監(jiān)測，可以幫助企業(yè)確保產(chǎn)品符合規(guī)定的涂層厚度要求，提高產(chǎn)品的質量和生產(chǎn)效率。

天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經(jīng)驗，研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行檢測,幫助企業(yè)準確核算成本及質量管控?？蓮V泛應用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領域。

EDX-T是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦分析。能更好地滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。