探測(cè)器SDD元素范圍從Na~U

X熒光光譜儀樣品處理注意事項(xiàng)
樣品制備：確保樣品表面平整、清潔，避免污染和氧化影響分析結(jié)果。
樣品尺寸：樣品尺寸需適合設(shè)備的測(cè)量窗口，過(guò)小或過(guò)大會(huì)影響分析精度。
樣品均一性：對(duì)于不均勻樣品（如粉末或顆粒），需充分混合或研磨以確保代表性。
避免污染：使用一次性手套和清潔工具，避免樣品受到污染。

其他注意事項(xiàng)
操作培訓(xùn)：操作人員需經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，熟悉設(shè)備操作和安全規(guī)程。
遵守法規(guī)：確保設(shè)備使用符合當(dāng)?shù)剌椛浒踩蛯?shí)驗(yàn)室管理法規(guī)。
設(shè)備存放：設(shè)備存放時(shí)需關(guān)閉電源，避免長(zhǎng)時(shí)間暴露在潮濕或高溫環(huán)境中。
通過(guò)嚴(yán)格遵守以上注意事項(xiàng)，可以確保XRF設(shè)備的安全、運(yùn)行，并獲得準(zhǔn)確可靠的分析結(jié)果。

EDX3600HX射線熒光光譜儀 (XRF)主要特點(diǎn)：、高穩(wěn)定性：采用高分辨率 SDD 探測(cè)器和 X 光管，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。 快速分析：分析速度快，通常只需幾秒鐘即可獲得結(jié)果，提高工作效率。無(wú)損檢測(cè)：無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行破壞性處理，即可進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，適用于各種形狀和尺寸的樣品。操作簡(jiǎn)單,配備用戶友好的軟件界面，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，即使是初學(xué)者也能快速上手。

X射線熒光光譜儀（XRF，X-ray Fluorescence Spectrometer）是一種基于X射線熒光原理的分析儀器，主要用于元素成分的定性和定量分析。其通過(guò)X射線管或放射性同位素源產(chǎn)生高能X射線（稱為初級(jí)X射線或入射X射線），照射到樣品表面。 當(dāng)入射X射線的能量樣品中某元素的內(nèi)層電子（如K層或L層電子）的結(jié)合能時(shí)，電子會(huì)被激發(fā)并從原子中逸出，形成空穴。 原子內(nèi)層電子被激發(fā)后，外層電子會(huì)躍遷到內(nèi)層空穴以填補(bǔ)，同時(shí)釋放能量。 -這種能量以X射線的形式釋放，稱為熒光X射線（次級(jí)X射線）。探測(cè)器將X射線光子轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并通過(guò)多道分析器（MCA）記錄其能量和強(qiáng)度。 根據(jù)熒光X射線的能量，可以確定樣品中存在的元素（定性分析）

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長(zhǎng)色散型XRF（WDXRF）：通過(guò)衍射晶體將熒光X射線按波長(zhǎng)分開(kāi)，分辨率高，但儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過(guò)探測(cè)器直接測(cè)量熒光X射線的能量，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質(zhì)、冶金、環(huán)境、考古、材料科學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

天瑞儀器X射線熒光光譜儀EDX3600H在工業(yè)生產(chǎn)的金屬分析中，主要應(yīng)用于：
銅合金生產(chǎn)：原材料檢測(cè)、生產(chǎn)過(guò)程控制、成品質(zhì)量檢驗(yàn)
金屬加工：材料鑒別、成分分析、質(zhì)量評(píng)估
回收行業(yè)：廢舊金屬分類、成分鑒定、價(jià)值評(píng)估
科研機(jī)構(gòu)：材料研究、成分分析、性能測(cè)試