鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

鍍層測厚儀主要特點(diǎn)：
1、測量數(shù)據(jù)數(shù)字化存儲、圖形顯示，準(zhǔn)確、直觀，測量精度高。
2、超過三十八種以上的可測量鍍層，以及所有導(dǎo)電性鍍層。絲狀線材和其它異形底材鍍層；
3、實(shí)時動態(tài)顯示電位變化曲線、可識別和測量合金層或其它中間層；
4、自動詳細(xì)分析多層鎳等類似鍍層的電位差值及厚度，評價(jià)其耐腐蝕性能；
5、測量多層鎳無需三電系統(tǒng)，不用x-y記錄儀，儀器更可靠，使用更方便；
6、能分辨不同成份的鍍層、評價(jià)鍍層的均勻性，進(jìn)而判定鍍液的狀況、添加劑的性能；
7、監(jiān)視測量是否準(zhǔn)確、詳細(xì)分析測量數(shù)據(jù)，選擇打印測量曲線和標(biāo)準(zhǔn)格式報(bào)告；
8、測量數(shù)據(jù)便于長期保存、隨時調(diào)用，可以利用其它軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理；
9、操作簡便、迅速，無需記憶測量種類代碼等。儀器可自行檢定；
10、軟件免費(fèi)升級，測量鍍層種類不斷增加。根據(jù)用戶要求定制軟件，或增加特別硬件。

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。


測量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。


⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。


⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。


⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。


⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。


⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。


⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。


⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。