沿絕緣子串的電壓分布是不均勻的。計(jì)算和實(shí)測(cè)都表明，從導(dǎo)線算起的片絕緣子承受的電壓大，依次向橫擔(dān)方向遞減，到接近橫擔(dān)時(shí)，絕緣子上承受的電壓又逐漸增大，但比導(dǎo)線側(cè)的要小許多。在壓輸電線路的絕緣子下端裝有均壓環(huán)，這是為了增加絕緣子對(duì)導(dǎo)線的電容，以改善電壓分布，降低靠近導(dǎo)線的絕緣子所承受的電壓。

可調(diào)火花間隙式：它是由一個(gè)串有電容的可調(diào)火花間隙裝在絕緣操作桿上組成，測(cè)量時(shí)將金屬又卡在被測(cè)絕緣子銅和鋼腳上，旋轉(zhuǎn)操作桿以改變火花間隙距離，使其放電，其臨界敵電電壓即為該絕緣子上的分布電壓，可從刻度盤(pán)上讀出。如可調(diào)間隙完全短接時(shí)仍不放電，刻度盤(pán)上讀數(shù)為零，則表明該絕緣子為零值絕緣子。

電力系統(tǒng)中，棒形瓷支柱絕緣子被廣泛使用在母線和隔離開(kāi)關(guān)中。在長(zhǎng)期的運(yùn)行過(guò)程中，機(jī)械、 熱、電、環(huán)境等多因素的綜合作用使絕緣子用瓷不可避免地發(fā)生各種物理、化學(xué)變化，從而引起電氣 性能、機(jī)械強(qiáng)度等隨運(yùn)行時(shí)問(wèn)的增加而逐步下降， 發(fā)熱、放電、發(fā)光等特征將伴隨性能下降過(guò)程同步出現(xiàn)。當(dāng)絕緣子運(yùn)行狀況良好時(shí)，其發(fā)熱主要為項(xiàng)；當(dāng)瓷絕緣子性能劣化，或瓷件開(kāi)裂，或瓷盤(pán)表面積污，均會(huì)使第二或第三項(xiàng)的泄漏電流加大，發(fā)熱增加，致使絕緣子溫度升高。目前認(rèn)為，引起絕緣子劣化主要有三個(gè)方面的原因：制造工藝控制不當(dāng)、內(nèi)部缺陷和運(yùn)行環(huán)境變化的影響。