【TOF-SIMS原位電化學表征測試】
TOF-SIMS技術是什么？TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技術是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過將樣本表面轟擊成離子，并利用飛行時間質(zhì)譜儀測量這些離子的時間和質(zhì)量，從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術不僅可以提供元素分析信息，還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細數(shù)據(jù)。

服務背景：鋰電池SEI膜形成機制研究需表面化學動態(tài)分析。
檢測重要性：實時捕捉電極-電解質(zhì)界面副反應產(chǎn)物。
檢測周期：5-7個工作日.
廣電計量通過深入研究負極表面SEI膜的成分和結構，可以為電池材料的改進提供重要參考。此外，TOF-SIMS技術還可以用于研究電池內(nèi)部的化學反應機制，優(yōu)化電池的工作溫度、電解液成分等條件，提高電池的性能和壽命。隨著技術的進一步發(fā)展，TOF-SIMS有望為電池領域的科學家們提供更多關鍵的表面分析信息，推動電池技術的不斷創(chuàng)新。



【同步輻射XRD檢測】
背景：同步輻射光源亮度比常規(guī)X光高10?倍，1980年代開啟材料動態(tài)結構研究新紀元。
重要性：捕捉電池充放電、催化反應中的瞬態(tài)相變過程。
產(chǎn)品類型：鋰離子電池正極、燃料電池電解質(zhì)。

廣電計量可提供一站式同步輻射XRD檢測-高分辨原位晶體結構演變分析檢測服務。

【導熱系數(shù)測試】
背景：隨著5G芯片功率密度提升，熱管理材料性能評估需求爆發(fā)式增長。
重要性：導熱系數(shù)是散熱器選型的核心參數(shù)，偏差10%可導致器件壽命減半。
產(chǎn)品類型：氮化鋁陶瓷、熱界面材料、碳化硅復合材料。
檢測標準：ASTM E1461（激光閃射法）、ISO 22007-4（熱流計法）。

廣電計量能力：
1、德國NETZSCH LFA 467 HyperFlash?，溫度范圍-100~1100℃；
2、各向異性材料三維導熱分析；
3、動力電池包導熱膠測試精度±3%。