ICT設(shè)備的制造廠家各異，全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國)，Teradyne泰瑞達(dá)(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。

二手TR-5001E 運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣 二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT

使產(chǎn)品一次良品率提高：提供大量的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以便生產(chǎn)管理者對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時(shí)監(jiān)督、調(diào)整、管理。 減少操誤判錯(cuò)誤：ICT對(duì)錯(cuò)誤檢測(cè)將準(zhǔn)確穩(wěn)定，避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè)。 減少操作費(fèi)：ICT是一次性對(duì)整板進(jìn)行測(cè)試，也可以同時(shí)測(cè)試多塊聯(lián)板，只需一個(gè)操作員工。產(chǎn)品經(jīng)過ICT測(cè)試以后，為后段的功能測(cè)試掃除一切隱藏性問題。 現(xiàn)代化的電子生產(chǎn)線，ICT58.COM擁有ICT進(jìn)行測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)良的卡片，是您接單的得力助手，是客戶發(fā)單的信心！

二手TR-5001E 運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。

產(chǎn)品特色 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　 可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫管理及測(cè)試站監(jiān)控程式 Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修 大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn) 應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開路空焊問題 TR518FE是德律科技繼成功推出TR518F之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件

飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開發(fā)時(shí)間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作的針床夾具，夾具制作和程序開發(fā)周期長。

它通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。