求購以下測試設(shè)備： 德律泰：TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷倫：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞達：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 測試飛針：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 測試機配件板卡：agilent3070 i1000 數(shù)字開關(guān)板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞達 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 數(shù)字開關(guān)板、DUT電源板 以上設(shè)備測試設(shè)備和配件都打包回收， 不管設(shè)備好壞，閑置，需要處理.

安捷倫：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞達：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 測試飛針：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自檢功能，保障工作前良好狀態(tài)
探針接觸不良檢測并示值
數(shù)據(jù)自動存盤備份，保障數(shù)據(jù)無丟失
可測IC（集成電路）插錯、插反，管腳開路等故障
自動消除分布電容、接觸電阻
數(shù)字、圖表、曲線等豐富的統(tǒng)計功能，提供改進工藝和質(zhì)量管理的 數(shù)據(jù)
全自動放電功能 靈敏的電壓感應(yīng)技術(shù)，可測IC引腳漏焊開路、接插件、小電容極性
三極管β測試等技術(shù)的使用，可對元器件進行一致性檢測
的測試覆蓋率和分辨率，可測光電耦合器、電位器、接插件、晶振等器件
波形顯示的配合調(diào)程，測量值更加合理

Keysight i3070 系列 6 系統(tǒng)提供了一個新的模擬激勵和響應(yīng)單元（ASRU）卡，其中包含新的數(shù)字測量電路（DMC），能夠為系統(tǒng)提供額外的特性和提高系統(tǒng)模擬測試速度（可達到總模擬測試時間的20％）。
Keysight i3070 系列 6 系統(tǒng)可以滿足這一需求。系列 6 ICT 系統(tǒng)采用成熟的技術(shù)精心設(shè)計，測試效率相比以前的產(chǎn)品大大提升。系列 6 包含久經(jīng)考驗的軟件、硬件和編程功能，完全兼容以前的系統(tǒng)，并且可以執(zhí)行高度可重復(fù)的測量。系列 6 ICT 還提供新的基礎(chǔ)架構(gòu)，能夠允許制造商更輕松地并入外部電路以提高測試覆蓋率，同時改善對外部電路的控制。深圳市木士電子有限公司二手ICT測試儀
銷售，回收、租賃各品牌二手ICT在線測試儀TRI518SII、 TRI5001E、TRI8100LV、Keysighti3070、agilent i1000D、泰瑞達Teradyne TS
提供工廠ICT測試技術(shù)支持，的團隊、質(zhì)量、技術(shù)可靠、售后無憂。支持工廠閑置設(shè)備

Teradyne泰瑞達(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國同類產(chǎn)品加以簡化和小型化，并改成使用氣動壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測設(shè)備，并迅速推廣普及。二手SMT測試設(shè)備
銷售，回收各品牌二手ICT在線測試儀TRI518SII、
TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
Teradyne ICT和TAKAYA測試飛針各品牌ICT測試配件板卡，
開關(guān)板，ATMSMB.DUT.安捷倫agilent3070
XTP control card （E9900-66501）
asru N （N1807-66550）
Hybrid DD pin card（E4000-66550）
泰瑞達： TeradyneTSL124/128 PIN CAR 、
PIO CAR 、System controller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
供工廠ICT測試技術(shù)支持，的團隊、
質(zhì)量、技術(shù)可靠、售后無憂。支持工廠閑置設(shè)備
回收、維修、升級處理，歡迎咨詢,24小時在線！

為向用戶提供更多 ICT 能力，Keysight 還給Agilent3070配備了從標(biāo)準(zhǔn)邊界掃描和連
接測試到互聯(lián)測試的全部邊界掃描能力。這些能力有助于滿足制造商對可邊界
掃描器件的需要，以及制造商能適應(yīng)未來對 Intel 基周邊控制中心和處理
器增加的需求。
長線 MDA 壓著夾具不適合用于數(shù)字
測試，這一觀點是對還是錯?
雖然一般認(rèn)為這是對的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 證明這是錯的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用傳統(tǒng) MDA 型
長線壓著夾具執(zhí)行數(shù)字測試。邊界掃
描測試，串行編程，基于庫的測試
都能無毛刺地運行。使用 MDA 型夾
具，用戶現(xiàn)在就有了簡單、和低
運行成本的測試解決方案

電源
DUT 電源 0V 至 +20V
0V 至 -14V
高壓 DUT 電源 10V 至 +100V
0V 至 -14V
電源通道數(shù)
可編程 0 – 5 V @ 20A
可編程 0 –14V @ 10A
可編程 0 – 20V @ 4A
可編程 0 – -14V @ 5A
可編程 10 –100V @ 10mA
常規(guī)
兩路
無
一路
一路
無
高壓
一路
一路
無
一路
一路
N6700 DUT 電源單元 4 x 可編程通道
0 至 50V @ 5A，每一通道
過壓保護 有
過流保護 有
系統(tǒng)電源 AC 200V – 240V
10A
夾具
軟件規(guī)范
操作系統(tǒng) Windows XP Home Edition
支持語言 英語
簡體漢語
繁體漢語
( 支持本地化 )
無矢量測試技術(shù) VTEP v2.0 測試套件 ( 包括 VTEP, iVTEP 和 NPM)
覆蓋擴展
Extest Toggle
探針位置圖
引腳位置圖
器件位置圖
探針引腳定位器 帶導(dǎo)向探針的引腳定位器
實施產(chǎn)出量顯示 運行時的實 FPY ( 一次合格率 ) 顯示
產(chǎn)出率增強工具 自動重測試
自動測試周期重復(fù)
調(diào)試界面 便于選擇測試選項的電子表單格式
自動調(diào)試 自動調(diào)試模擬不加電測試和 VTEP v2.0
擴展能力 達 28 槽的單一模塊設(shè)計
缺陷消息打印機 使用并行端口 (LPT1) 接口（不包括打印機）
發(fā)運和安裝幫助 包括 (Keysight 授權(quán)代理商 )
電容器放電保護 有
支持的夾具類型 長線壓床型